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介质塑料的介电常数测量方法及装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811025868.1
申请日
:
2018-09-04
公开(公告)号
:
CN109342514A
公开(公告)日
:
2019-02-15
发明(设计)人
:
张飞
申请人
:
申请人地址
:
523000 广东省东莞市松山湖高新产业开发区现代企业加速器2号厂房
IPC主分类号
:
G01N2722
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325
代理人
:
黄章辉
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-03-12
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/22 申请日:20180904
2019-02-15
公开
公开
共 50 条
[1]
介电常数测量方法及装置
[P].
郭富祥
论文数:
0
引用数:
0
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0
郭富祥
.
中国专利
:CN114264884A
,2022-04-01
[2]
介电常数的测量方法
[P].
高倩
论文数:
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
高倩
;
杨涛
论文数:
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
杨涛
.
中国专利
:CN120914125A
,2025-11-07
[3]
低损耗介质介电常数测量装置及测量方法
[P].
孟治国
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孟治国
;
陈圣波
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陈圣波
;
赵凯
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赵凯
;
郑兴明
论文数:
0
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郑兴明
;
姜涛
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0
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姜涛
;
王景然
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0
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王景然
.
中国专利
:CN102135573A
,2011-07-27
[4]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486A
,2025-10-28
[5]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486B
,2025-12-23
[6]
遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板
[P].
郑风云
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郑风云
;
徐阳
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徐阳
;
陈建伦
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陈建伦
;
刘力明
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刘力明
;
雷国奖
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雷国奖
.
中国专利
:CN111060751A
,2020-04-24
[7]
冻土介电常数测量夹具及测量方法
[P].
赵少杰
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赵少杰
;
张立新
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张立新
.
中国专利
:CN101666831A
,2010-03-10
[8]
固体电介质复介电常数测量方法
[P].
梁昌洪
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梁昌洪
;
郑家骏
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0
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0
郑家骏
.
中国专利
:CN1274083A
,2000-11-22
[9]
液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法
[P].
卢永春
论文数:
0
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0
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0
卢永春
.
中国专利
:CN108872713B
,2018-11-23
[10]
液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法
[P].
卢永春
论文数:
0
引用数:
0
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0
卢永春
.
中国专利
:CN108490270B
,2018-09-04
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