机械设备接触面张开位移测量装置及其测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710321399.7
申请日
2017-05-09
公开(公告)号
CN107063072A
公开(公告)日
2017-08-18
发明(设计)人
刘水清 潘广善 吴国庆
申请人
申请人地址
214082 江苏省无锡市滨湖区山水东路222号
IPC主分类号
G01B714
IPC分类号
代理机构
无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228
代理人
聂启新
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
结合面真实接触面积测量装置与测量方法 [P]. 
李玲 ;
蔡安江 ;
阮晓光 .
中国专利 :CN105277149B ,2016-01-27
[2]
接触面粘结强度测量装置 [P]. 
宿辉 ;
汪健 ;
马秋娟 ;
李向辉 ;
段宇 ;
宁珍 .
中国专利 :CN204154627U ,2015-02-11
[3]
接触面温度测量装置 [P]. 
薛健 ;
熊翔 ;
徐惠娟 ;
王辉 .
中国专利 :CN2938049Y ,2007-08-22
[4]
位移测量装置、位移测量方法及光刻设备 [P]. 
吴萍 .
中国专利 :CN111457843B ,2020-07-28
[5]
位移测量方法和位移测量装置 [P]. 
小山胜弘 ;
池田正人 .
中国专利 :CN102834690A ,2012-12-19
[6]
位移测量装置及位移测量方法 [P]. 
马海祥 ;
李小龙 ;
冯甫 ;
袁小聪 .
中国专利 :CN119618083A ,2025-03-14
[7]
位移测量装置和位移测量方法 [P]. 
安达聪 ;
徳洋平 ;
长谷川年洋 .
中国专利 :CN105806201A ,2016-07-27
[8]
位移测量装置及位移测量方法 [P]. 
马海祥 ;
李小龙 ;
冯甫 ;
袁小聪 .
中国专利 :CN119618083B ,2025-04-04
[9]
位移测量装置和位移测量方法 [P]. 
梅辉 ;
曾有军 ;
安德里亚斯·沃斯 ;
阿明·迈森伯格 .
中国专利 :CN115711570B ,2025-08-08
[10]
位移测量方法以及位移测量装置 [P]. 
松井优贵 ;
菅孝博 ;
泷政宏章 .
中国专利 :CN104797904B ,2015-07-22