一种测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010108648.6
申请日
2020-02-21
公开(公告)号
CN111338943A
公开(公告)日
2020-06-26
发明(设计)人
林晓升 郭建强 杨萍
申请人
申请人地址
100041 北京市石景山区实兴大街30号院3号楼2层B-0035房间
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226
代理人
李明;赵吉阳
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
王鹏程 ;
倪亚玲 .
中国专利 :CN115481007A ,2022-12-16
[2]
设备检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
张清 ;
毛翔宇 ;
邓钢 .
中国专利 :CN114281583A ,2022-04-05
[3]
测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
问王博 .
中国专利 :CN117452918A ,2024-01-26
[4]
测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
黄燊 ;
庄镇铭 ;
詹灯辉 ;
张文智 ;
梁华文 .
中国专利 :CN117408016A ,2024-01-16
[5]
设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
张利 ;
李丹丹 ;
万诚 .
中国专利 :CN117491780A ,2024-02-02
[6]
设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
薛雨 ;
袁俊卿 .
中国专利 :CN119917415A ,2025-05-02
[7]
测试方法、电子设备及可读存储介质 [P]. 
鞠鑫 .
中国专利 :CN111367812A ,2020-07-03
[8]
一种存储设备测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
龙小林 ;
雷泰 .
中国专利 :CN120412699A ,2025-08-01
[9]
一种存储设备测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
龙小林 ;
雷泰 .
中国专利 :CN120412699B ,2025-11-25
[10]
特效显示方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
杨剑英 ;
雷明 ;
丁唐 .
中国专利 :CN117406992A ,2024-01-16