测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引：0

申请号：

CN202110601576.3

申请日：

2021-05-31

公开(公告)号：

CN115481007A

公开(公告)日：

2022-12-16

发明(设计)人：

王鹏程倪亚玲

申请人：

申请人地址：

100041 北京市石景山区实兴大街30号院3号楼2层B-0035房间

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447

代理人：

李柯莹

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-16	公开	公开
2023-01-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20210531

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王芸红 .

中国专利 :CN120295843A ,2025-07-11

[2]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘毅 ;

许超 .

中国专利 :CN113742198A ,2021-12-03

[3]

测试方法及装置、电子设备及存储介质 [P].

张鹏 .

中国专利 :CN120178072A ,2025-06-20

[4]

授权方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

闫海成 ;

周明骏 ;

周桓 ;

庄汉阳 ;

王延 .

中国专利 :CN113242224A ,2021-08-10

[5]

接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

兰海涛 .

中国专利 :CN114546854A ,2022-05-27

[6]

接口测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许光跃 ;

徐钰 ;

张辉 ;

周宇 ;

张后永 .

中国专利 :CN117667686A ,2024-03-08

[7]

设备控制方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

包建明 ;

陈斐 ;

王曦 ;

樊少强 ;

贾岩 ;

林顺 .

中国专利 :CN116095470B ,2025-10-24

[8]

存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

刘聖福 ;

吴丰硕 ;

刘福东 .

中国专利 :CN120762984B ,2025-11-21

[9]

存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

刘聖福 ;

吴丰硕 ;

刘福东 .

中国专利 :CN120762984A ,2025-10-10

[10]

一种测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

林晓升 ;

郭建强 ;

杨萍 .

中国专利 :CN111338943A ,2020-06-26

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