测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010466031.1
申请日
2020-05-28
公开(公告)号
CN113742198A
公开(公告)日
2021-12-03
发明(设计)人
刘毅 许超
申请人
申请人地址
100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
朱颖;臧建明
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
宋杰菁 ;
朱俊杰 ;
蒋日健 .
中国专利 :CN119807069A ,2025-04-11
[2]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
高腾远 ;
薛品龙 ;
王跃辉 ;
李洋 ;
赵印凯 ;
周毅 .
中国专利 :CN119718790A ,2025-03-28
[3]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张珂汇 .
中国专利 :CN120723640A ,2025-09-30
[4]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
邵洁 .
中国专利 :CN120412547A ,2025-08-01
[5]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
卞国强 .
中国专利 :CN119696738A ,2025-03-25
[6]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张辉 ;
陈旭 ;
曹洪彬 ;
王超 ;
周张弛 .
中国专利 :CN120723620A ,2025-09-30
[7]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
韩玉祥 ;
梁雨霏 .
中国专利 :CN114756473A ,2022-07-15
[8]
测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
王鹏程 ;
倪亚玲 .
中国专利 :CN115481007A ,2022-12-16
[9]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郝丹 .
中国专利 :CN119046160A ,2024-11-29
[10]
性能测试方法及其装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黄俊文 ;
谢林洁 ;
杨洁 ;
孙磊 .
中国专利 :CN117421196A ,2024-01-19