接触检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880032194.X

申请日：

2018-10-05

公开(公告)号：

CN110637217A

公开(公告)日：

2019-12-31

发明(设计)人：

森大介

申请人：

申请人地址：

日本三重县

IPC主分类号：

G01L102

IPC分类号：

B05D702 B29C3902

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038

代理人：

刘杨

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-31	公开	公开
2020-01-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01L 1/02 申请日:20181005

共 50 条

[1]

接触检测装置 [P].

森大介 .

中国专利 :CN109073484B ,2018-12-21

[2]

接触检测装置 [P].

杉森透 ;

荻野弘之 ;

植田茂树 ;

礒谷守 ;

福田祐 .

中国专利 :CN1508524A ,2004-06-30

[3]

接触检测装置 [P].

柴田哲好 ;

那须将树 ;

前田拓磨 ;

吴辰光 ;

黄田尚宏 ;

奥村刚正 .

日本专利 :CN119678021A ,2025-03-21

[4]

接触检测装置 [P].

吉田知司 ;

杉山孝美 ;

纲木一良 ;

前田拓磨 .

日本专利 :CN119678023A ,2025-03-21

[5]

接触检测装置 [P].

植田茂树 ;

荻野弘之 ;

矢萩秀二 .

中国专利 :CN1309100C ,2004-02-25

[6]

接触检测装置 [P].

大馆正太郎 ;

中村高太郎 .

日本专利 :CN114966222B ,2025-07-15

[7]

接触检测装置 [P].

杉山孝美 ;

吉田知司 ;

纲木一良 ;

前田拓磨 .

日本专利 :CN119678022A ,2025-03-21

[8]

接触检测装置 [P].

角谷政英 ;

石井章夫 .

中国专利 :CN113330271A ,2021-08-31

[9]

接触检测装置、接触检测单元及接触检测方法 [P].

坂田吾朗 .

中国专利 :CN103325366A ,2013-09-25

[10]

声波型接触检测装置 [P].

田中芳和 .

中国专利 :CN1327320C ,2005-12-21

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