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接触检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380058702.2
申请日
:
2023-09-19
公开(公告)号
:
CN119678022A
公开(公告)日
:
2025-03-21
发明(设计)人
:
杉山孝美
吉田知司
纲木一良
前田拓磨
申请人
:
住友理工株式会社
申请人地址
:
日本爱知县
IPC主分类号
:
G01L1/14
IPC分类号
:
B62D1/06
代理机构
:
北京聿宏知识产权代理有限公司 11372
代理人
:
吴大建;霍玉娟
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-08
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01L 1/14申请日:20230919
2025-03-21
公开
公开
共 50 条
[1]
接触检测装置
[P].
森大介
论文数:
0
引用数:
0
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0
森大介
.
中国专利
:CN109073484B
,2018-12-21
[2]
接触检测装置
[P].
杉森透
论文数:
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杉森透
;
荻野弘之
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荻野弘之
;
植田茂树
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植田茂树
;
礒谷守
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0
礒谷守
;
福田祐
论文数:
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福田祐
.
中国专利
:CN1508524A
,2004-06-30
[3]
接触检测装置
[P].
柴田哲好
论文数:
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
柴田哲好
;
那须将树
论文数:
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
那须将树
;
前田拓磨
论文数:
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
前田拓磨
;
吴辰光
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
吴辰光
;
黄田尚宏
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
黄田尚宏
;
奥村刚正
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
奥村刚正
.
日本专利
:CN119678021A
,2025-03-21
[4]
接触检测装置
[P].
吉田知司
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
吉田知司
;
杉山孝美
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
杉山孝美
;
纲木一良
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
纲木一良
;
前田拓磨
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机构:
住友理工株式会社
住友理工株式会社
前田拓磨
.
日本专利
:CN119678023A
,2025-03-21
[5]
接触检测装置
[P].
森大介
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0
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0
森大介
.
中国专利
:CN110637217A
,2019-12-31
[6]
接触检测装置
[P].
植田茂树
论文数:
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植田茂树
;
荻野弘之
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荻野弘之
;
矢萩秀二
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矢萩秀二
.
中国专利
:CN1309100C
,2004-02-25
[7]
接触检测装置
[P].
大馆正太郎
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0
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机构:
本田技研工业株式会社
本田技研工业株式会社
大馆正太郎
;
中村高太郎
论文数:
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0
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机构:
本田技研工业株式会社
本田技研工业株式会社
中村高太郎
.
日本专利
:CN114966222B
,2025-07-15
[8]
接触检测装置
[P].
角谷政英
论文数:
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角谷政英
;
石井章夫
论文数:
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0
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石井章夫
.
中国专利
:CN113330271A
,2021-08-31
[9]
接触检测装置、接触检测单元及接触检测方法
[P].
坂田吾朗
论文数:
0
引用数:
0
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0
坂田吾朗
.
中国专利
:CN103325366A
,2013-09-25
[10]
声波型接触检测装置
[P].
田中芳和
论文数:
0
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0
田中芳和
.
中国专利
:CN1327320C
,2005-12-21
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