接触检测装置

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专利类型
发明
申请号
CN201780029305.7
申请日
2017-02-08
公开(公告)号
CN109073484B
公开(公告)日
2018-12-21
发明(设计)人
森大介
申请人
申请人地址
日本三重县
IPC主分类号
G01L102
IPC分类号
B05D702 B29C3902
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人
李成海
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
接触检测装置 [P]. 
杉森透 ;
荻野弘之 ;
植田茂树 ;
礒谷守 ;
福田祐 .
中国专利 :CN1508524A ,2004-06-30
[2]
接触检测装置 [P]. 
柴田哲好 ;
那须将树 ;
前田拓磨 ;
吴辰光 ;
黄田尚宏 ;
奥村刚正 .
日本专利 :CN119678021A ,2025-03-21
[3]
接触检测装置 [P]. 
吉田知司 ;
杉山孝美 ;
纲木一良 ;
前田拓磨 .
日本专利 :CN119678023A ,2025-03-21
[4]
接触检测装置 [P]. 
森大介 .
中国专利 :CN110637217A ,2019-12-31
[5]
接触检测装置 [P]. 
植田茂树 ;
荻野弘之 ;
矢萩秀二 .
中国专利 :CN1309100C ,2004-02-25
[6]
接触检测装置 [P]. 
大馆正太郎 ;
中村高太郎 .
日本专利 :CN114966222B ,2025-07-15
[7]
接触检测装置 [P]. 
杉山孝美 ;
吉田知司 ;
纲木一良 ;
前田拓磨 .
日本专利 :CN119678022A ,2025-03-21
[8]
接触检测装置 [P]. 
角谷政英 ;
石井章夫 .
中国专利 :CN113330271A ,2021-08-31
[9]
接触检测装置、接触检测单元及接触检测方法 [P]. 
坂田吾朗 .
中国专利 :CN103325366A ,2013-09-25
[10]
声波型接触检测装置 [P]. 
田中芳和 .
中国专利 :CN1327320C ,2005-12-21