沟槽MOS器件

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200910202044.1
申请日
2009-12-24
公开(公告)号
CN102110687B
公开(公告)日
2011-06-29
发明(设计)人
张朝阳 殷建斐
申请人
申请人地址
201206 上海市浦东新区川桥路1188号
IPC主分类号
H01L2706
IPC分类号
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
顾继光
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种沟槽MOS器件及其制造方法 [P]. 
魏炜 ;
周永振 ;
杜丽华 .
中国专利 :CN120751730A ,2025-10-03
[2]
屏蔽栅沟槽型MOS器件的制造方法 [P]. 
李艳旭 .
中国专利 :CN113327860B ,2021-08-31
[3]
沟槽型MOS器件中沟槽栅的制备方法 [P]. 
郭晓波 .
中国专利 :CN104576346B ,2015-04-29
[4]
一种沟槽型MOS器件及其制造方法 [P]. 
蒋正洋 .
中国专利 :CN108962989B ,2018-12-07
[5]
沟槽式MOS器件 [P]. 
陈译 ;
陆佳顺 ;
杨洁雯 .
中国专利 :CN213366600U ,2021-06-04
[6]
屏蔽栅沟槽型MOS器件及其制造方法 [P]. 
王登 ;
徐西贤 ;
阚志国 .
中国专利 :CN117790292A ,2024-03-29
[7]
应用于沟槽型MOS器件的沟槽栅及其制备方法 [P]. 
郭晓波 ;
胡荣星 .
中国专利 :CN104282543A ,2015-01-14
[8]
沟槽型MOS器件中沟槽底部形成屏蔽膜层的方法 [P]. 
陈正嵘 .
中国专利 :CN105702570A ,2016-06-22
[9]
应用于沟槽型MOS器件的沟槽栅的制备方法 [P]. 
郭晓波 ;
孟鸿林 .
中国专利 :CN103839791B ,2014-06-04
[10]
高单胞密度沟槽MOS器件 [P]. 
刘伟 ;
王凡 .
中国专利 :CN202373586U ,2012-08-08