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一种膜厚测试仪安全存放装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202023069080.6
申请日：
2020-12-18
公开(公告)号：
CN214121063U
公开(公告)日：
2021-09-03
发明(设计)人：
廖红伟 沈国平 刘洋博
申请人：
申请人地址：
332500 江西省九江市湖口县双钟镇三里大道上埠路56号
IPC主分类号：
G01B706
IPC分类号：
G01D1124 G01D1130 G01D1110
代理机构：
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616
代理人：
林燕
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-09-03 授权 授权
共 50 条
[1]
膜厚测试仪 [P]. 
谭若山 .
中国专利 :CN222598795U ,2025-03-11
[2]
一种膜厚测试仪 [P]. 
赵俊华 .
中国专利 :CN206330562U ,2017-07-14
[3]
一种台式膜厚测试仪 [P]. 
贺蓉 ;
李亭锦 ;
沈小江 .
中国专利 :CN210268519U ,2020-04-07
[4]
一种厚膜电路模组测试仪 [P]. 
杨春辉 .
中国专利 :CN211293158U ,2020-08-18
[5]
光学膜厚测试仪 [P]. 
魏杨 ;
薛尚清 ;
张博 ;
谢亮 .
中国专利 :CN201318934Y ,2009-09-30
[6]
一种电阻导通测试仪存放装置 [P]. 
牛红亮 ;
张长亮 .
中国专利 :CN222474976U ,2025-02-14
[7]
一种电缆故障测试仪存放装置 [P]. 
李亚龙 ;
郭天庆 .
中国专利 :CN213023417U ,2021-04-20
[8]
铜厚测试仪 [P]. 
张小强 .
中国专利 :CN212363108U ,2021-01-15
[9]
太赫兹膜厚测试仪 [P]. 
王俊龙 ;
陈海森 .
中国专利 :CN113776468A ,2021-12-10
[10]
厚膜集成电路功能测试仪 [P]. 
刘文针 ;
高文志 ;
陈爱萍 ;
梁艳臣 .
中国专利 :CN202166721U ,2012-03-14
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