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一种改善区熔硅单晶电阻率均匀性的掺杂线圈
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021311464.1
申请日
:
2020-07-07
公开(公告)号
:
CN212955435U
公开(公告)日
:
2021-04-13
发明(设计)人
:
张志富
王遵义
刘凯
吴磊
李小龙
陈玉桥
程亚胜
王彦君
申请人
:
申请人地址
:
214200 江苏省无锡市宜兴经济技术开发区东氿大道
IPC主分类号
:
C30B1312
IPC分类号
:
C30B2906
代理机构
:
天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211
代理人
:
薛萌萌
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-13
授权
授权
共 50 条
[1]
一种改善区熔径向电阻率均匀性的线圈结构
[P].
娄中士
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娄中士
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王遵义
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王遵义
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刘铮
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刘铮
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由佰玲
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由佰玲
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张雪囡
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张雪囡
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李立伟
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李立伟
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乔柳
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乔柳
.
中国专利
:CN205974742U
,2017-02-22
[2]
一种改善区熔径向电阻率均匀性的线圈结构
[P].
娄中士
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娄中士
;
王遵义
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王遵义
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刘铮
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刘铮
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由佰玲
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由佰玲
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张雪囡
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张雪囡
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李立伟
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李立伟
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乔柳
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乔柳
.
中国专利
:CN106087035B
,2016-11-09
[3]
一种改善区熔硅单晶径向电阻率分布的掺杂装置
[P].
娄中士
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娄中士
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刘铮
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刘铮
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王遵义
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王遵义
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郝大维
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郝大维
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刘琨
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刘琨
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王彦君
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王彦君
;
李立伟
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李立伟
.
中国专利
:CN206916251U
,2018-01-23
[4]
一种提高区熔硅单晶径向电阻率均匀性的方法
[P].
张雪囡
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张雪囡
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王彦君
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王彦君
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李建宏
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李建宏
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邬丽丽
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邬丽丽
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陈强
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陈强
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苗向春
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苗向春
;
李军
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李军
.
中国专利
:CN102586859A
,2012-07-18
[5]
一种改善区熔硅单晶径向电阻率分布的掺杂装置
[P].
娄中士
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娄中士
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刘铮
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刘铮
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王遵义
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王遵义
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郝大维
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郝大维
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刘琨
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刘琨
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王彦君
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王彦君
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李立伟
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李立伟
.
中国专利
:CN106995935A
,2017-08-01
[6]
一种提高区熔硅单晶轴向与径向电阻率均匀性的反射环
[P].
刘铮
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刘铮
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王遵义
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韩暐
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涂颂昊
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涂颂昊
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孙昊
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孙昊
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王彦君
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王彦君
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张雪囡
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由佰玲
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由佰玲
.
中国专利
:CN205035488U
,2016-02-17
[7]
一种提高区熔硅单晶电阻率均匀性的行波磁场法
[P].
李建宏
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李建宏
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张雪囡
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菅瑞娟
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菅瑞娟
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王刚
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王刚
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赵宏波
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赵宏波
.
中国专利
:CN102534750A
,2012-07-04
[8]
一种提高区熔硅单晶轴向与径向电阻率均匀性的反射环
[P].
刘铮
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刘铮
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王遵义
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王遵义
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娄中士
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韩暐
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张雪囡
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由佰玲
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由佰玲
.
中国专利
:CN105177699A
,2015-12-23
[9]
一种有效提高区熔硅单晶径向电阻率均匀性的直拉区熔气掺法
[P].
张雪囡
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张雪囡
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菅瑞娟
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菅瑞娟
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徐强
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徐强
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李建宏
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李建宏
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王彦君
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王彦君
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沈浩平
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沈浩平
.
中国专利
:CN102534753A
,2012-07-04
[10]
用于改善直拉硅单晶电阻率均匀性的导流筒结构
[P].
娄中士
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娄中士
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李亚哲
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李亚哲
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马萌
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马萌
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孙昊
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孙昊
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孙毅
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孙毅
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中国专利
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,2015-12-30
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