光学系统和光学检测装置以及检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201110096267.1
申请日
2011-04-18
公开(公告)号
CN102749332A
公开(公告)日
2012-10-24
发明(设计)人
陶立 宋桂菊 凯文.G.哈丁 杨东民 翟梓融 韩杰 吉尔.阿布拉莫维奇
申请人
申请人地址
美国纽约州
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
G01N2101
代理机构
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
彭久云
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
光学系统、光学检测设备和检测方法 [P]. 
王俊杰 .
中国专利 :CN120491299A ,2025-08-15
[2]
光学系统的检测装置以及检测方法 [P]. 
尚建忠 ;
吴伟 ;
曹玉君 ;
罗自荣 ;
唐晔 ;
周军 ;
党耀石 .
中国专利 :CN110501142A ,2019-11-26
[3]
物镜、光学成像设备、光学系统以及光学系统检测方法 [P]. 
王海龙 ;
丁松园 ;
张彬彬 ;
田中群 .
中国专利 :CN114200636A ,2022-03-18
[4]
用于检测综合验光仪的光学系统和光学检测装置 [P]. 
刘文丽 ;
李飞 ;
洪宝玉 ;
张吉焱 ;
马振亚 ;
孙劼 .
中国专利 :CN203443766U ,2014-02-19
[5]
光学检测方法、光学检测装置以及光学检测系统 [P]. 
朱嘉 ;
何涛 ;
吴欢欢 .
中国专利 :CN106198567A ,2016-12-07
[6]
光学系统透过率检测装置及光学系统透过率检测方法 [P]. 
李天鹏 ;
侯宝路 ;
杨若霁 .
中国专利 :CN113670860A ,2021-11-19
[7]
光学系统以及检测设备 [P]. 
何泊衢 ;
杨长英 ;
高志民 ;
王南朔 ;
马砚忠 ;
陈鲁 ;
张嵩 .
中国专利 :CN222105753U ,2024-12-03
[8]
成像光学系统和检测装置 [P]. 
杨晓青 ;
王婷婷 .
中国专利 :CN113552692B ,2021-10-26
[9]
光学系统的调试方法和光学检测系统 [P]. 
张昊 ;
包建 ;
何君博 ;
杨浩哲 ;
相春昌 .
中国专利 :CN119803866B ,2025-09-26
[10]
光学系统的调试方法和光学检测系统 [P]. 
张昊 ;
包建 ;
何君博 ;
杨浩哲 ;
相春昌 .
中国专利 :CN119803866A ,2025-04-11