光学系统以及检测设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420802614.0
申请日
2024-04-17
公开(公告)号
CN222105753U
公开(公告)日
2024-12-03
发明(设计)人
何泊衢 杨长英 高志民 王南朔 马砚忠 陈鲁 张嵩
申请人
上海中科飞测半导体科技有限公司
申请人地址
200000 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区玉宇路1068号、飞渡路1568号、天高路1111号6幢
IPC主分类号
G02B27/09
IPC分类号
G01B11/02 G01B11/14 G01B11/06 G01B11/26 G02B7/00 G02B5/00 H01L21/66
代理机构
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281
代理人
郭燕;彭家恩
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
物镜、光学成像设备、光学系统以及光学系统检测方法 [P]. 
王海龙 ;
丁松园 ;
张彬彬 ;
田中群 .
中国专利 :CN114200636A ,2022-03-18
[2]
镜片夹持机构、光学系统及半导体光学检测设备 [P]. 
赵文斌 ;
朱常兴 ;
蒋健君 ;
王志康 ;
齐孟宗 .
中国专利 :CN222689617U ,2025-03-28
[3]
光学系统、光学检测设备和检测方法 [P]. 
王俊杰 .
中国专利 :CN120491299A ,2025-08-15
[4]
光学系统以及组装光学系统的方法 [P]. 
王英任 ;
赵科纶 ;
陈怡和 ;
吴亚修 .
中国专利 :CN113970854A ,2022-01-25
[5]
光学机构以及光学系统 [P]. 
黄晨昕 ;
陈怡和 ;
刘守宸 ;
俞政宇 .
中国专利 :CN217279140U ,2022-08-23
[6]
光学机构以及光学系统 [P]. 
黄晨昕 ;
陈怡和 ;
吴亚修 ;
刘守宸 .
中国专利 :CN217156956U ,2022-08-09
[7]
光学系统和光学检测装置以及检测方法 [P]. 
陶立 ;
宋桂菊 ;
凯文.G.哈丁 ;
杨东民 ;
翟梓融 ;
韩杰 ;
吉尔.阿布拉莫维奇 .
中国专利 :CN102749332A ,2012-10-24
[8]
光学系统及自动光学检测设备 [P]. 
鲍杰 .
中国专利 :CN107228859A ,2017-10-03
[9]
一种外壁检测光学系统 [P]. 
吴沛林 ;
吴帅 ;
刘智城 ;
廖志其 ;
刘勇 .
中国专利 :CN118392786A ,2024-07-26
[10]
光学系统以及光学设备 [P]. 
山下雅史 ;
伊藤智希 ;
籔本洋 ;
山本浩史 ;
三轮哲史 ;
坪野谷启介 ;
槙田步 ;
上原健 .
中国专利 :CN111480103B ,2020-07-31