镜片夹持机构、光学系统及半导体光学检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421005301.9

申请日：

2024-05-10

公开(公告)号：

CN222689617U

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

赵文斌朱常兴蒋健君王志康齐孟宗

申请人：

北京奥普托科微电子技术有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区荣昌东街甲5号2号楼5层502-B11

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/95

代理机构：

北京汇知杰知识产权代理有限公司 11587

代理人：

张婷婷;杨彦鸿

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-28	授权	授权

共 50 条

[1]

光学系统以及检测设备 [P].

何泊衢 ;

杨长英 ;

高志民 ;

王南朔 ;

马砚忠 ;

陈鲁 ;

张嵩 .

中国专利 :CN222105753U ,2024-12-03

[2]

多功能性半导体光学系统以及光学检测方法 [P].

赖宪平 ;

许睿然 .

中国专利 :CN114252447B ,2024-05-03

[3]

多功能性半导体光学系统以及光学检测方法 [P].

赖宪平 ;

许睿然 .

中国专利 :CN114252447A ,2022-03-29

[4]

光学系统及自动光学检测设备 [P].

鲍杰 .

中国专利 :CN107228859A ,2017-10-03

[5]

光学系统、光学检测设备和检测方法 [P].

王俊杰 .

中国专利 :CN120491299A ,2025-08-15

[6]

物镜、光学成像设备、光学系统以及光学系统检测方法 [P].

王海龙 ;

丁松园 ;

张彬彬 ;

田中群 .

中国专利 :CN114200636A ,2022-03-18

[7]

半导体激光测距机光学系统 [P].

杨耀富 ;

王利 ;

朱振军 ;

曹春青 ;

卢金英 .

中国专利 :CN202614217U ,2012-12-19

[8]

用于半导体光刻的光学系统 [P].

F·梅尔泽 ;

关彦彬 ;

S·萨尔特 ;

D·菲奥尔卡 .

中国专利 :CN101517488A ,2009-08-26

[9]

电子光学系统校准装置及半导体检测设备 [P].

许鸿亮 ;

米涛 ;

张禧晨 ;

张之光 .

中国专利 :CN119852227A ,2025-04-18

[10]

一种用于半导体的缺陷检测光学系统 [P].

吴迪 ;

黄岚 ;

杨帆 ;

高锦龙 .

中国专利 :CN115524345A ,2022-12-27

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