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物镜、光学成像设备、光学系统以及光学系统检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010879955.4
申请日
:
2020-08-27
公开(公告)号
:
CN114200636A
公开(公告)日
:
2022-03-18
发明(设计)人
:
王海龙
丁松园
张彬彬
田中群
申请人
:
申请人地址
:
361005 福建省厦门市思明区思明南路422号
IPC主分类号
:
G02B1300
IPC分类号
:
G02B702
代理机构
:
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
:
邹丹
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-18
公开
公开
2022-04-05
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 13/00 申请日:20200827
共 50 条
[1]
物镜以及光学系统
[P].
陈鲁
论文数:
0
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0
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0
陈鲁
;
杨乐
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0
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杨乐
;
周璐阳
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0
引用数:
0
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周璐阳
;
张嵩
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0
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张嵩
.
中国专利
:CN218298637U
,2023-01-13
[2]
物镜以及光学系统
[P].
论文数:
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机构:
陈鲁
;
杨乐
论文数:
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0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
杨乐
;
周璐阳
论文数:
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0
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0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
周璐阳
;
张嵩
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张嵩
.
中国专利
:CN117369082A
,2024-01-09
[3]
光学系统,以及成像设备
[P].
佐藤裕之
论文数:
0
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0
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佐藤裕之
.
中国专利
:CN111758060A
,2020-10-09
[4]
光学系统、观察光学系统以及光学装置
[P].
永原晓子
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永原晓子
;
永利由纪子
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永利由纪子
.
中国专利
:CN105589192A
,2016-05-18
[5]
光学系统以及检测设备
[P].
何泊衢
论文数:
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
何泊衢
;
杨长英
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0
机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
杨长英
;
高志民
论文数:
0
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
高志民
;
王南朔
论文数:
0
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
王南朔
;
马砚忠
论文数:
0
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
马砚忠
;
陈鲁
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0
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
陈鲁
;
张嵩
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0
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
张嵩
.
中国专利
:CN222105753U
,2024-12-03
[6]
成像光学系统、成像设备
[P].
齐藤政宏
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齐藤政宏
;
椛泽秀年
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椛泽秀年
.
中国专利
:CN104272162A
,2015-01-07
[7]
改善光学系统成像特性的方法以及光学系统
[P].
奥拉夫·康拉迪
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0
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0
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0
奥拉夫·康拉迪
.
中国专利
:CN101589342A
,2009-11-25
[8]
成像光学系统
[P].
金井纪文
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金井纪文
;
约耳·科维尔
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约耳·科维尔
.
中国专利
:CN102016682A
,2011-04-13
[9]
成像光学系统
[P].
王亚亚
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王亚亚
.
中国专利
:CN111722375A
,2020-09-29
[10]
成像光学系统
[P].
高漥豊
论文数:
0
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0
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高漥豊
.
中国专利
:CN204557033U
,2015-08-12
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