多层瓷介电容器无损检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610112872.6

申请日：

2016-02-29

公开(公告)号：

CN105676089A

公开(公告)日：

2016-06-15

发明(设计)人：

王家昌戴颖孔泽

申请人：

申请人地址：

100070 北京市丰台区海鹰路1号院5号楼3层3-2（园区）

IPC主分类号：

G01R3112

IPC分类号：

代理机构：

北京汇信合知识产权代理有限公司 11335

代理人：

吴甘棠

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-06	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/12 变更事项:申请人变更前:北京元六鸿远电子技术有限公司变更后:北京元六鸿远电子科技股份有限公司变更事项:地址变更前:100070 北京市丰台区海鹰路1号院5号楼3层3-2（园区）变更后:100070 北京市丰台区海鹰路1号院5号楼3层3-2（园区）
2016-06-15	公开	公开
2018-05-08	授权	授权
2016-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101669706304 IPC(主分类):G01R 31/12 专利申请号:2016101128726 申请日:20160229

共 50 条

[1]

一种多层瓷介电容器无损检测装置 [P].

王家昌 ;

戴颖 ;

孔泽 .

中国专利 :CN205404736U ,2016-07-27

[2]

一种多层瓷介电容器检测方法 [P].

岳冰 ;

贺洋 ;

席雨 ;

韩树强 ;

陈晔 .

中国专利 :CN110940733A ,2020-03-31

[3]

多层陶瓷电容器无损检测装置 [P].

高景霞 ;

孙彩霞 ;

李慧 ;

王宁 .

中国专利 :CN210347551U ,2020-04-17

[4]

一种多层陶瓷电容器的无损检测装置 [P].

范广震 .

中国专利 :CN214235130U ,2021-09-21

[5]

一种用于无损检测的多层片式瓷介电容器 [P].

郝萌萌 ;

束俊琦 .

中国专利 :CN221079841U ,2024-06-04

[6]

多层片式瓷介电容器 [P].

吴继伟 .

中国专利 :CN202549619U ,2012-11-21

[7]

多层片式瓷介电容器 [P].

吴继伟 ;

刘溪笔 ;

戚永义 ;

杨国兴 ;

才纯库 ;

孙飞 ;

孙影 .

中国专利 :CN112309720A ,2021-02-02

[8]

多层片式瓷介电容器 [P].

吴继伟 ;

刘溪笔 ;

戚永义 ;

杨国兴 ;

才纯库 ;

孙飞 ;

孙影 .

中国专利 :CN112309720B ,2024-10-15

[9]

多层片式瓷介电容器 [P].

吴继伟 .

中国专利 :CN102610386B ,2012-07-25

[10]

多层片式瓷介电容器 [P].

吴继伟 ;

刘溪笔 ;

戚永义 ;

杨国兴 ;

才纯库 ;

孙飞 ;

孙影 .

中国专利 :CN213400883U ,2021-06-08

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