电迁移测试结构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621360987.9

申请日：

2016-12-12

公开(公告)号：

CN206332024U

公开(公告)日：

2017-07-14

发明(设计)人：

单文光宋永梁

申请人：

申请人地址：

100176 北京市大兴区经济技术开发区（亦庄）文昌大道18号

IPC主分类号：

H01L23544

IPC分类号：

代理机构：

上海光华专利事务所 31219

代理人：

余明伟

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-07-14	授权	授权

共 50 条

[1]

电迁移测试结构 [P].

赵祥富 .

中国专利 :CN204720446U ,2015-10-21

[2]

电迁移测试方法及结构 [P].

冯军宏 .

中国专利 :CN104576613A ,2015-04-29

[3]

电迁移结构和电迁移测试方法 [P].

陈芳 .

中国专利 :CN104835802A ,2015-08-12

[4]

电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P].

吴龙 ;

王帆 .

中国专利 :CN112864131A ,2021-05-28

[5]

电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P].

吴龙 ;

王帆 .

中国专利 :CN112864131B ,2024-04-16

[6]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

范庆言 ;

蒋昊 ;

朱月芹 .

中国专利 :CN120261449A ,2025-07-04

[7]

电迁移测试结构 [P].

甘正浩 .

中国专利 :CN102655137A ,2012-09-05

[8]

电迁移测试结构 [P].

赵敏 ;

陈雷刚 ;

周柯 .

中国专利 :CN106449462A ,2017-02-22

[9]

电迁移测试结构 [P].

王焱 ;

尹彬锋 ;

陈雷刚 ;

周柯 ;

高金德 .

中国专利 :CN111653550A ,2020-09-11

[10]

电迁移测试结构 [P].

王笃林 ;

郑雅文 ;

胡永锋 ;

陆黎明 .

中国专利 :CN103809062A ,2014-05-21

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