电迁移测试方法及结构

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310524353.7

申请日：

2013-10-29

公开(公告)号：

CN104576613A

公开(公告)日：

2015-04-29

发明(设计)人：

冯军宏

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江路18号

IPC主分类号：

H01L23544

IPC分类号：

G01R3100

代理机构：

上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237

代理人：

屈蘅;李时云

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-04-29	公开	公开
2017-08-25	授权	授权
2015-05-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101611389767 IPC(主分类):H01L 23/544 专利申请号:2013105243537 申请日:20131029

共 50 条

[1]

电迁移测试结构 [P].

单文光 ;

宋永梁 .

中国专利 :CN206332024U ,2017-07-14

[2]

电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P].

吴龙 ;

王帆 .

中国专利 :CN112864131A ,2021-05-28

[3]

电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P].

吴龙 ;

王帆 .

中国专利 :CN112864131B ,2024-04-16

[4]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

杨素慧 ;

杨盛玮 .

中国专利 :CN114899176A ,2022-08-12

[5]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

郑雅文 .

中国专利 :CN103811467A ,2014-05-21

[6]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

范庆言 ;

蒋昊 ;

朱月芹 .

中国专利 :CN120261449A ,2025-07-04

[7]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

朱月芹 ;

周柯 ;

陈雷刚 .

中国专利 :CN109742066A ,2019-05-10

[8]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

冷越 ;

白月 .

中国专利 :CN105118798A ,2015-12-02

[9]

电迁移测试结构 [P].

王焱 ;

尹彬锋 ;

陈雷刚 ;

周柯 ;

高金德 .

中国专利 :CN111653550A ,2020-09-11

[10]

电迁移测试结构及方法 [P].

范庆言 ;

曹巍 ;

陈雷刚 .

中国专利 :CN110379725A ,2019-10-25

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