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电迁移测试结构及测试方法

被引：0
申请号：
CN202210511290.0
申请日：
2022-05-11
公开(公告)号：
CN114899176A
公开(公告)日：
2022-08-12
发明(设计)人：
杨素慧 杨盛玮
申请人：
申请人地址：
430079 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
IPC主分类号：
H01L23544
IPC分类号：
H01L2166
代理机构：
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人：
杜娟;骆希聪
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-12 公开 公开
共 50 条
[1]
电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P]. 
吴龙 ;
王帆 .
中国专利 :CN112864131A ,2021-05-28
[2]
电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P]. 
吴龙 ;
王帆 .
中国专利 :CN112864131B ,2024-04-16
[3]
电迁移测试结构及测试方法 [P]. 
郑雅文 .
中国专利 :CN103811467A ,2014-05-21
[4]
电迁移测试结构及测试方法 [P]. 
范庆言 ;
蒋昊 ;
朱月芹 .
中国专利 :CN120261449A ,2025-07-04
[5]
电迁移测试结构及测试方法 [P]. 
朱月芹 ;
周柯 ;
陈雷刚 .
中国专利 :CN109742066A ,2019-05-10
[6]
电迁移测试结构及测试方法 [P]. 
冷越 ;
白月 .
中国专利 :CN105118798A ,2015-12-02
[7]
电迁移测试结构 [P]. 
甘正浩 .
中国专利 :CN102655137A ,2012-09-05
[8]
电迁移测试结构及方法 [P]. 
范庆言 ;
曹巍 ;
陈雷刚 .
中国专利 :CN110379725A ,2019-10-25
[9]
电迁移测试方法及结构 [P]. 
冯军宏 .
中国专利 :CN104576613A ,2015-04-29
[10]
电迁移测试结构及方法 [P]. 
颜志宇 ;
徐红 ;
陈伙立 ;
王烈阳 ;
许怡冰 ;
罗肖 .
中国专利 :CN114927502A ,2022-08-19
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