电迁移测试结构及方法

被引：0

申请号：

CN202210463733.3

申请日：

2022-04-28

公开(公告)号：

CN114927502A

公开(公告)日：

2022-08-19

发明(设计)人：

颜志宇徐红陈伙立王烈阳许怡冰罗肖

申请人：

申请人地址：

519080 广东省珠海市唐家东岸白沙路1号欧比特科技园

IPC主分类号：

H01L23544

IPC分类号：

H05B610 H05B636 G01K716

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

张龙哺

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/544 申请日:20220428
2022-08-19	公开	公开

共 50 条

[1]

电迁移测试结构及方法 [P].

范庆言 ;

曹巍 ;

陈雷刚 .

中国专利 :CN110379725A ,2019-10-25

[2]

电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P].

吴龙 ;

王帆 .

中国专利 :CN112864131A ,2021-05-28

[3]

电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P].

吴龙 ;

王帆 .

中国专利 :CN112864131B ,2024-04-16

[4]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

杨素慧 ;

杨盛玮 .

中国专利 :CN114899176A ,2022-08-12

[5]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

郑雅文 .

中国专利 :CN103811467A ,2014-05-21

[6]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

范庆言 ;

蒋昊 ;

朱月芹 .

中国专利 :CN120261449A ,2025-07-04

[7]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

朱月芹 ;

周柯 ;

陈雷刚 .

中国专利 :CN109742066A ,2019-05-10

[8]

电迁移测试结构及测试方法 [P].

冷越 ;

白月 .

中国专利 :CN105118798A ,2015-12-02

[9]

电迁移测试方法及结构 [P].

冯军宏 .

中国专利 :CN104576613A ,2015-04-29

[10]

电迁移结构和电迁移测试方法 [P].

陈芳 .

中国专利 :CN104835802A ,2015-08-12

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