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电迁移测试结构及电迁移测试方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110112497.6
申请日：
2021-01-27
公开(公告)号：
CN112864131A
公开(公告)日：
2021-05-28
发明(设计)人：
吴龙 王帆
申请人：
申请人地址：
430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
IPC主分类号：
H01L23544
IPC分类号：
H01L2166
代理机构：
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人：
曹廷廷
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-05-28 公开 公开
2021-06-15 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/544 申请日:20210127
共 50 条
[1]
电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P]. 
吴龙 ;
王帆 .
中国专利 :CN112864131B ,2024-04-16
[2]
电迁移结构和电迁移测试方法 [P]. 
陈芳 .
中国专利 :CN104835802A ,2015-08-12
[3]
电迁移测试结构及测试方法 [P]. 
杨素慧 ;
杨盛玮 .
中国专利 :CN114899176A ,2022-08-12
[4]
电迁移测试结构及测试方法 [P]. 
郑雅文 .
中国专利 :CN103811467A ,2014-05-21
[5]
电迁移测试结构及测试方法 [P]. 
范庆言 ;
蒋昊 ;
朱月芹 .
中国专利 :CN120261449A ,2025-07-04
[6]
电迁移测试结构及测试方法 [P]. 
朱月芹 ;
周柯 ;
陈雷刚 .
中国专利 :CN109742066A ,2019-05-10
[7]
电迁移测试结构及测试方法 [P]. 
冷越 ;
白月 .
中国专利 :CN105118798A ,2015-12-02
[8]
电迁移测试结构 [P]. 
单文光 ;
宋永梁 .
中国专利 :CN206332024U ,2017-07-14
[9]
电迁移测试结构 [P]. 
赵祥富 .
中国专利 :CN204720446U ,2015-10-21
[10]
电迁移测试结构 [P]. 
甘正浩 .
中国专利 :CN102655137A ,2012-09-05
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