法律状态
| 2005-01-19 |
公开
| 公开 |
| 2005-03-16 |
实质审查的生效
| 实质审查的生效 |
| 2007-09-12 |
专利权的终止未缴年费专利权终止
| 专利权的终止未缴年费专利权终止 |
| 2005-12-28 |
授权
| 授权 |
共 50 条
[1]
X射线光刻对准标记
[P].
中国专利 :CN1627190A ,2005-06-15 [2]
X射线光刻装置
[P].
中国专利 :CN1406383A ,2003-03-26 [8]
对准标记及图形对准方法
[P].
罗先刚
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
罗先刚
;
刘吉夫
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
刘吉夫
;
李伟
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
李伟
;
李雄
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
李雄
;
张仁彦
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
张仁彦
.
中国专利 :CN117492336A ,2024-02-02 [9]
对准标记及图形对准方法
[P].
罗先刚
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
罗先刚
;
刘吉夫
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
刘吉夫
;
李伟
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
李伟
;
李雄
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
李雄
;
张仁彦
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
天府兴隆湖实验室
天府兴隆湖实验室
张仁彦
.
中国专利 :CN117492336B ,2024-04-09