电子元器件参数测试平台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120278971.4

申请日：

2011-08-03

公开(公告)号：

CN202177671U

公开(公告)日：

2012-03-28

发明(设计)人：

刘友举黄雁彬周俊生李丽秀修建国何璞

申请人：

申请人地址：

510640 广东省广州市天河区五山路381号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-16	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101626421017 IPC(主分类):G01R 31/00 专利号:ZL2011202789714 申请日:20110803 授权公告日:20120328 终止日期:20140803
2012-03-28	授权	授权

共 50 条

[1]

电子元器件参数测试平台 [P].

刘友举 ;

黄雁彬 ;

周俊生 ;

李丽秀 ;

修建国 ;

何璞 .

中国专利 :CN102305908A ,2012-01-04

[2]

电子元器件测试系统 [P].

崔海坡 ;

李哲龙 ;

周勋 ;

廖跃华 ;

沈力行 ;

尚昆 .

中国专利 :CN203365588U ,2013-12-25

[3]

电子元器件测试夹具 [P].

高毅勇 ;

何丽平 ;

崔瑜 .

中国专利 :CN206804693U ,2017-12-26

[4]

电子元器件测试设备 [P].

姜爱兰 ;

刘勇 .

中国专利 :CN203054119U ,2013-07-10

[5]

电子元器件测试夹具 [P].

李志文 .

中国专利 :CN2280918Y ,1998-05-06

[6]

电子元器件测试夹具 [P].

季益清 ;

冉守洪 ;

谢天沙 ;

汤丹 .

中国专利 :CN221148744U ,2024-06-14

[7]

电子元器件测试转接座 [P].

王伟 ;

刘淼 ;

李娜 ;

王军 .

中国专利 :CN218382937U ,2023-01-24

[8]

电子元器件老化测试模块 [P].

戴雷玉 .

中国专利 :CN203054134U ,2013-07-10

[9]

电子元器件教学测试板 [P].

郝建卫 ;

齐庆堃 ;

易艺 .

中国专利 :CN201429914Y ,2010-03-24

[10]

一种电子元器件S参数通用测试方法 [P].

朱纵野 ;

芮二明 ;

熊园园 ;

韩福禹 ;

刘亦光 ;

朱旭斌 .

中国专利 :CN119652431A ,2025-03-18

← 1 2 3 4 5 →