电子元器件参数测试平台

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110220284.1

申请日：

2011-08-03

公开(公告)号：

CN102305908A

公开(公告)日：

2012-01-04

发明(设计)人：

刘友举黄雁彬周俊生李丽秀修建国何璞

申请人：

申请人地址：

510640 广东省广州市天河区五山路381号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-01-04	公开	公开
2021-07-16	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20110803 授权公告日:20130703 终止日期:20200803
2013-07-03	授权	授权
2012-02-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101190911846 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2011102202841 申请日:20110803

共 50 条

[1]

电子元器件参数测试平台 [P].

刘友举 ;

黄雁彬 ;

周俊生 ;

李丽秀 ;

修建国 ;

何璞 .

中国专利 :CN202177671U ,2012-03-28

[2]

一种电子元器件S参数通用测试方法 [P].

朱纵野 ;

芮二明 ;

熊园园 ;

韩福禹 ;

刘亦光 ;

朱旭斌 .

中国专利 :CN119652431A ,2025-03-18

[3]

电子元器件测试系统 [P].

崔海坡 ;

李哲龙 ;

周勋 ;

廖跃华 ;

沈力行 ;

尚昆 .

中国专利 :CN203365588U ,2013-12-25

[4]

电子元器件测试设备 [P].

张勇 .

中国专利 :CN114384279A ,2022-04-22

[5]

电子元器件测试系统 [P].

崔海坡 ;

李哲龙 ;

周勋 ;

廖跃华 ;

沈力行 ;

尚昆 .

中国专利 :CN104345226A ,2015-02-11

[6]

电子元器件测试夹具 [P].

高毅勇 ;

何丽平 ;

崔瑜 .

中国专利 :CN206804693U ,2017-12-26

[7]

电子元器件测试设备 [P].

姜爱兰 ;

刘勇 .

中国专利 :CN203054119U ,2013-07-10

[8]

电子元器件测试设备 [P].

刘丹 .

中国专利 :CN108828372A ,2018-11-16

[9]

电子元器件测试夹具 [P].

李志文 .

中国专利 :CN2280918Y ,1998-05-06

[10]

电子元器件测试夹具 [P].

季益清 ;

冉守洪 ;

谢天沙 ;

汤丹 .

中国专利 :CN221148744U ,2024-06-14

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