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一种电迁移测试结构
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201620065685.2
申请日：
2016-01-22
公开(公告)号：
CN205376515U
公开(公告)日：
2016-07-06
发明(设计)人：
陈芳
申请人：
申请人地址：
100176 北京市大兴区经济技术开发区（亦庄）文昌大道18号
IPC主分类号：
H01L23544
IPC分类号：
代理机构：
上海光华专利事务所 31219
代理人：
余明伟
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2016-07-06 | 授权 | 授权 |