半导体激光器测试装置、系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420410690.3

申请日：

2014-07-23

公开(公告)号：

CN204008908U

公开(公告)日：

2014-12-10

发明(设计)人：

张丽雯陆耀东高和平任奕奕宋金鹏

申请人：

申请人地址：

100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

刘芳

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-10-22	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/00 变更事项:专利权人变更前:北京光电技术研究所变更后:北京京仪光电技术研究所有限公司变更事项:地址变更前:100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号变更后:100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号
2014-12-10	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体激光器测试装置、系统和方法 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

高和平 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 .

中国专利 :CN104237762A ,2014-12-24

[2]

半导体激光器测试装置 [P].

赵成斌 ;

许文海 ;

吴荣之 ;

马安生 .

中国专利 :CN2720456Y ,2005-08-24

[3]

半导体激光器偏振测试装置 [P].

鲁开源 ;

米格尔多纳西门托 .

中国专利 :CN205691317U ,2016-11-16

[4]

一种半导体激光器光电测试装置 [P].

唐宽平 ;

孙睦光 ;

李彦军 ;

谢士金 ;

何德毅 ;

马军 .

中国专利 :CN2624203Y ,2004-07-07

[5]

半导体激光器测试装置 [P].

景洪伟 .

中国专利 :CN306831025S ,2021-09-17

[6]

半导体激光器光束特性测试装置 [P].

张普 ;

刘兴胜 ;

吴迪 ;

宗恒军 .

中国专利 :CN202853880U ,2013-04-03

[7]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN104880298B ,2015-09-02

[8]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN204666336U ,2015-09-23

[9]

一种半导体激光器测试装置 [P].

程国军 .

中国专利 :CN212565176U ,2021-02-19

[10]

一种半导体激光器测试装置 [P].

王洪波 ;

赵克宁 ;

汤庆敏 ;

肖成峰 ;

郑兆河 ;

徐现刚 .

中国专利 :CN207351492U ,2018-05-11

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