半导体激光器测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200420052386.2

申请日：

2004-07-19

公开(公告)号：

CN2720456Y

公开(公告)日：

2005-08-24

发明(设计)人：

赵成斌许文海吴荣之马安生

申请人：

申请人地址：

255086山东省淄博市高新技术开发区万杰路111号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

H01S30941

代理机构：

淄博科信专利商标代理有限公司

代理人：

吴红

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-08-24	授权	授权
2007-09-12	专利权的终止未缴年费专利权终止	专利权的终止未缴年费专利权终止

共 50 条

[1]

半导体激光器特性参数测试装置 [P].

赵成斌 ;

许文海 ;

吴荣之 ;

马安生 .

中国专利 :CN2720457Y ,2005-08-24

[2]

半导体激光器偏振测试装置 [P].

鲁开源 ;

米格尔多纳西门托 .

中国专利 :CN205691317U ,2016-11-16

[3]

半导体激光器测试装置、系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

高和平 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 .

中国专利 :CN204008908U ,2014-12-10

[4]

半导体激光器测试装置 [P].

景洪伟 .

中国专利 :CN306831025S ,2021-09-17

[5]

一种半导体激光器测试装置 [P].

程国军 .

中国专利 :CN212565176U ,2021-02-19

[6]

半导体激光器光束特性测试装置 [P].

张普 ;

刘兴胜 ;

吴迪 ;

宗恒军 .

中国专利 :CN202853880U ,2013-04-03

[7]

一种新型半导体激光器测试装置 [P].

李艳青 ;

李飞 ;

程世超 ;

黄宁博 ;

李程 ;

侯作为 .

中国专利 :CN211784208U ,2020-10-27

[8]

一种半导体激光器芯片测试装置 [P].

邹正峰 .

中国专利 :CN213023457U ,2021-04-20

[9]

一种半导体激光器测试装置 [P].

王洪波 ;

赵克宁 ;

汤庆敏 ;

肖成峰 ;

郑兆河 ;

徐现刚 .

中国专利 :CN207351492U ,2018-05-11

[10]

半导体激光器电源测试装置及方法 [P].

刘明 ;

沈运 ;

朱日宏 ;

任大良 ;

单崇铭 ;

魏京天 .

中国专利 :CN108919138A ,2018-11-30

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