一种新型半导体激光器测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020571750.5

申请日：

2020-04-14

公开(公告)号：

CN211784208U

公开(公告)日：

2020-10-27

发明(设计)人：

李艳青李飞程世超黄宁博李程侯作为

申请人：

申请人地址：

458030 河南省鹤壁市淇滨区延河路201号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-27	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体激光器测试装置 [P].

赵成斌 ;

许文海 ;

吴荣之 ;

马安生 .

中国专利 :CN2720456Y ,2005-08-24

[2]

一种半导体激光器测试装置 [P].

程国军 .

中国专利 :CN212565176U ,2021-02-19

[3]

一种半导体激光器芯片测试装置 [P].

陈伟 .

中国专利 :CN203643563U ,2014-06-11

[4]

一种半导体激光器芯片测试装置 [P].

邹正峰 .

中国专利 :CN213023457U ,2021-04-20

[5]

半导体激光器特性参数测试装置 [P].

赵成斌 ;

许文海 ;

吴荣之 ;

马安生 .

中国专利 :CN2720457Y ,2005-08-24

[6]

半导体激光器偏振测试装置 [P].

鲁开源 ;

米格尔多纳西门托 .

中国专利 :CN205691317U ,2016-11-16

[7]

半导体激光器测试装置、系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

高和平 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 .

中国专利 :CN204008908U ,2014-12-10

[8]

一种半导体激光器测试装置 [P].

王洪波 ;

赵克宁 ;

汤庆敏 ;

肖成峰 ;

郑兆河 ;

徐现刚 .

中国专利 :CN207351492U ,2018-05-11

[9]

半导体激光器测试装置 [P].

景洪伟 .

中国专利 :CN306831025S ,2021-09-17

[10]

一种新型半导体激光器相位噪声测试装置 [P].

孙章考 ;

赵雪雅 ;

郭水涛 .

中国专利 :CN207763926U ,2018-08-24

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