360度光学测量装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201980036909.3
申请日
2019-09-05
公开(公告)号
CN112219085A
公开(公告)日
2021-01-12
发明(设计)人
史蒂夫·伊雷什 拉维·帕特尔
申请人
申请人地址
美国宾夕法尼亚州埃克斯顿
IPC主分类号
G01B1124
IPC分类号
G01B1127
代理机构
北京高沃律师事务所 11569
代理人
王爱涛
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光学测量装置 [P]. 
杨延竹 ;
陈祺坤 ;
张旭堂 ;
于波 ;
张华 .
中国专利 :CN215524512U ,2022-01-14
[2]
光学测量装置以及光学测量装置用适配器 [P]. 
保理江胜 .
中国专利 :CN108571926A ,2018-09-25
[3]
光学测量装置 [P]. 
森野久康 ;
的场贤一 ;
菅孝博 .
中国专利 :CN110672034A ,2020-01-10
[4]
光学测量装置 [P]. 
奥田贵启 ;
高嶋润 ;
谷沢元春 .
中国专利 :CN113390334A ,2021-09-14
[5]
光学测量装置 [P]. 
森野久康 ;
的场贤一 ;
菅孝博 .
中国专利 :CN107228635A ,2017-10-03
[6]
光学测量装置 [P]. 
奥田贵启 ;
高嶋润 ;
谷沢元春 .
日本专利 :CN113390334B ,2025-10-14
[7]
光学测量装置 [P]. 
赵大衍 ;
金裕振 ;
文知浩 ;
朴锺宇 ;
崔荣太 .
中国专利 :CN113218624A ,2021-08-06
[8]
光学测量装置 [P]. 
W·瓦尔蒂 ;
H·J·韦德曼 ;
A·加施 .
中国专利 :CN1328635A ,2001-12-26
[9]
光学测量装置 [P]. 
越智研司 ;
白井直树 .
中国专利 :CN101793506A ,2010-08-04
[10]
光学测量装置 [P]. 
赵大衍 ;
金裕振 ;
文知浩 ;
朴锺宇 ;
崔荣太 .
韩国专利 :CN113218624B ,2025-09-23