光学测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010002863.4

申请日：

2010-01-21

公开(公告)号：

CN101793506A

公开(公告)日：

2010-08-04

发明(设计)人：

越智研司白井直树

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

H05B3702

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

马高平

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-01-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101175109830 IPC(主分类):G01B 11/24 专利申请号:2010100028634 申请日:20100121
2015-05-06	授权	授权
2010-08-04	公开	公开

共 50 条

[1]

光学测量装置以及光学测量装置用适配器 [P].

保理江胜 .

中国专利 :CN108571926A ,2018-09-25

[2]

360度光学测量装置 [P].

史蒂夫·伊雷什 ;

拉维·帕特尔 .

中国专利 :CN112219085A ,2021-01-12

[3]

光学测量装置以及光学测量系统 [P].

后野和弘 .

中国专利 :CN103857999B ,2014-06-11

[4]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[5]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

[6]

光学测量装置 [P].

大泽贤太郎 .

中国专利 :CN104515739B ,2015-04-15

[7]

光学测量装置 [P].

杨延竹 ;

陈祺坤 ;

张旭堂 ;

于波 ;

张华 .

中国专利 :CN215524512U ,2022-01-14

[8]

光学测量装置 [P].

森野久康 ;

的场贤一 ;

菅孝博 .

中国专利 :CN110672034A ,2020-01-10

[9]

光学测量装置 [P].

H.贝哈 ;

P.霍瓦思 ;

J.尼古莱 .

中国专利 :CN104081221A ,2014-10-01

[10]

光学测量装置 [P].

王雄涛 ;

李梅玉 ;

李蕊 ;

史孟丹 .

中国专利 :CN205537687U ,2016-08-31

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