基于FPGA的SRAM存储器充放电效应测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010879924.9

申请日：

2020-08-27

公开(公告)号：

CN112071357B

公开(公告)日：

2020-12-11

发明(设计)人：

路同山苏京徐骏曹康丽周博李瑜婧费涛高冬冬潘阳阳刘刚

申请人：

申请人地址：

210000 江苏省南京市秦淮区御道街29号

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

代理机构：

上海段和段律师事务所 31334

代理人：

李佳俊;郭国中

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-02	授权	授权
2022-05-10	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G11C 29/56 登记生效日:20220428 变更事项:申请人变更前权利人:上海卫星装备研究所变更后权利人:南京航天航空大学变更事项:地址变更前权利人:200240 上海市闵行区华宁路251号变更后权利人:210000 江苏省南京市秦淮区御道街29号变更事项:申请人变更后权利人:上海卫星装备研究所
2020-12-11	公开	公开
2020-12-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20200827
2022-04-29	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G11C 29/56 变更事项:发明人变更前:苏京徐骏曹康丽周博李瑜婧费涛高冬冬潘阳阳刘刚变更后:路同山苏京徐骏曹康丽周博李瑜婧费涛高冬冬潘阳阳刘刚

共 50 条

[1]

基于FPGA的SRAM存储器单粒子和充放电效应测试系统及方法 [P].

路同山 ;

苏京 ;

徐骏 ;

周博 ;

曹康丽 ;

李瑜婧 ;

潘阳阳 ;

高冬冬 ;

费涛 ;

刘刚 .

中国专利 :CN112071359B ,2020-12-11

[2]

基于FPGA的SRAM存储器单粒子和充放电效应综合测试装置 [P].

路同山 ;

苏京 ;

李秀伟 ;

徐骏 ;

周博 ;

曹康丽 ;

潘阳阳 ;

高冬冬 ;

费涛 ;

刘刚 .

中国专利 :CN112071358B ,2020-12-11

[3]

一种基于FPGA的存储器芯片测试方法及测试系统 [P].

王英鉴 ;

李平 ;

何永江 ;

曹忠鲁 ;

李雷 ;

方畅 ;

刘宝林 ;

覃露 ;

魏光强 .

中国专利 :CN119049530A ,2024-11-29

[4]

基于FPGA的DDR存储器抗单粒子翻转性能测试系统及方法 [P].

刘璐 ;

高扬 ;

宛霁 .

中国专利 :CN114678059A ,2022-06-28

[5]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

张卫华 ;

喻梅 .

中国专利 :CN103093829A ,2013-05-08

[6]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

陈建宇 .

中国专利 :CN118053490A ,2024-05-17

[7]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

高劭伟 ;

林昭宇 .

中国专利 :CN118824343A ,2024-10-22

[8]

SRAM存储器和形成SRAM存储器的方法 [P].

张弓 ;

李煜 .

中国专利 :CN105719688B ,2016-06-29

[9]

一种基于FPGA的存储器芯片批量动态测试系统以及测试方法 [P].

曹忠鲁 ;

李平 ;

张子扬 ;

何永江 ;

叶林 ;

董云航 .

中国专利 :CN118609637A ,2024-09-06

[10]

存储器测试电路、测试系统及测试方法 [P].

谢元禄 ;

刘璟 ;

张君宇 ;

霍长兴 ;

呼红阳 ;

张坤 ;

刘明 .

中国专利 :CN111667877B ,2020-09-15

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