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半导体基板的清洗干燥方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810366118.4
申请日
:
2018-04-23
公开(公告)号
:
CN108807140A
公开(公告)日
:
2018-11-13
发明(设计)人
:
荻原勤
渡边修
永田岳志
小林直贵
郡大佑
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
H01L2102
IPC分类号
:
H01L2167
代理机构
:
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人
:
张晶;谢顺星
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-12-07
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20180423
2018-11-13
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体基板清洗系统及半导体基板的清洗方法
[P].
小川祐一
论文数:
0
引用数:
0
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0
小川祐一
.
中国专利
:CN105009258B
,2015-10-28
[2]
半导体基板的清洗装置及半导体基板的清洗方法
[P].
藤村侑
论文数:
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0
藤村侑
.
中国专利
:CN110168705A
,2019-08-23
[3]
半导体基板清洗用组合物、半导体基板的清洗方法、及半导体基板的制造方法
[P].
河合隆一郎
论文数:
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机构:
三菱瓦斯化学株式会社
三菱瓦斯化学株式会社
河合隆一郎
;
窟江宏彰
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机构:
三菱瓦斯化学株式会社
三菱瓦斯化学株式会社
窟江宏彰
;
茂田麻里
论文数:
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机构:
三菱瓦斯化学株式会社
三菱瓦斯化学株式会社
茂田麻里
;
岛田宪司
论文数:
0
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0
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0
机构:
三菱瓦斯化学株式会社
三菱瓦斯化学株式会社
岛田宪司
.
日本专利
:CN119452454A
,2025-02-14
[4]
半导体装置的制造方法及半导体基板的清洗方法
[P].
大见忠弘
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大见忠弘
;
寺本章伸
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寺本章伸
;
长谷部类
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长谷部类
;
宫下雅之
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宫下雅之
.
中国专利
:CN102007578A
,2011-04-06
[5]
半导体基板的制造方法及半导体基板
[P].
秦雅彦
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秦雅彦
;
市川磨
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市川磨
;
卜部友二
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卜部友二
;
宫田典幸
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宫田典幸
;
前田辰郎
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前田辰郎
;
安田哲二
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安田哲二
.
中国专利
:CN103548126B
,2014-01-29
[6]
半导体基板的清洗方法以及清洗系统
[P].
小川祐一
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小川祐一
;
山川晴义
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山川晴义
.
中国专利
:CN104584198B
,2015-04-29
[7]
清洗组合物、半导体基板的清洗方法、半导体元件的制造方法
[P].
室祐继
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机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
室祐继
;
稻叶正
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机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
稻叶正
;
上村哲也
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机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
上村哲也
.
日本专利
:CN117441226A
,2024-01-23
[8]
半导体基板清洗装置
[P].
王晖
论文数:
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王晖
;
陶晓峰
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陶晓峰
;
陈福平
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陈福平
;
贾社娜
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贾社娜
;
王希
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王希
;
张晓燕
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张晓燕
;
李学军
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李学军
.
中国专利
:CN110383455A
,2019-10-25
[9]
清洗组合物、半导体基板的清洗方法以及半导体元件的制造方法
[P].
室祐继
论文数:
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机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
室祐继
;
稻叶正
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机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
稻叶正
;
上村哲也
论文数:
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机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
上村哲也
.
日本专利
:CN117397010B
,2024-07-19
[10]
清洗组合物、半导体基板的清洗方法以及半导体元件的制造方法
[P].
室祐继
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机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
室祐继
;
稻叶正
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机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
稻叶正
;
上村哲也
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机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
上村哲也
.
日本专利
:CN117397010A
,2024-01-12
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