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芯片数据写入及测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021190946.6
申请日
:
2020-06-23
公开(公告)号
:
CN212484339U
公开(公告)日
:
2021-02-05
发明(设计)人
:
林东宁
申请人
:
申请人地址
:
519060 广东省珠海市南屏科技工业园屏北一路32号2号厂房二层14至16号、24号区域
IPC主分类号
:
G06F861
IPC分类号
:
G06F1122
代理机构
:
珠海智专专利商标代理有限公司 44262
代理人
:
林永协
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-02-05
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试装置
[P].
林源记
论文数:
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0
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林源记
;
谢志宏
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谢志宏
.
中国专利
:CN209606569U
,2019-11-08
[2]
eMCP芯片的测试装置
[P].
孙文琪
论文数:
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机构:
联和存储科技(江苏)有限公司
联和存储科技(江苏)有限公司
孙文琪
.
中国专利
:CN222337933U
,2025-01-10
[3]
芯片测试系统及芯片测试装置
[P].
焦继业
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焦继业
;
刘俊波
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刘俊波
;
李辉
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李辉
;
王暾烜
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王暾烜
.
中国专利
:CN217766725U
,2022-11-08
[4]
芯片测试装置及芯片测试设备
[P].
徐银森
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徐银森
;
罗双武
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罗双武
.
中国专利
:CN215813200U
,2022-02-11
[5]
芯片定位装置及芯片测试装置
[P].
葛志贤
论文数:
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葛志贤
.
中国专利
:CN216411357U
,2022-04-29
[6]
测试装置及测试线
[P].
汤志远
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汤志远
;
蒋晓东
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蒋晓东
.
中国专利
:CN208155574U
,2018-11-27
[7]
芯片测试装置、芯片测试系统及数据采集方法
[P].
林楷辉
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林楷辉
;
倪建兴
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倪建兴
.
中国专利
:CN114325312A
,2022-04-12
[8]
芯片测试装置、芯片测试系统及数据采集方法
[P].
林楷辉
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机构:
锐石创芯(深圳)半导体有限公司
锐石创芯(深圳)半导体有限公司
林楷辉
;
倪建兴
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机构:
锐石创芯(深圳)半导体有限公司
锐石创芯(深圳)半导体有限公司
倪建兴
.
中国专利
:CN114325312B
,2025-05-30
[9]
芯片测试装置及系统
[P].
孟宪余
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孟宪余
;
梁旺平
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梁旺平
.
中国专利
:CN203287491U
,2013-11-13
[10]
芯片测试装置及系统
[P].
萨斌
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萨斌
;
王刚
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王刚
.
中国专利
:CN216449690U
,2022-05-06
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