芯片数据写入及测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202021190946.6
申请日
2020-06-23
公开(公告)号
CN212484339U
公开(公告)日
2021-02-05
发明(设计)人
林东宁
申请人
申请人地址
519060 广东省珠海市南屏科技工业园屏北一路32号2号厂房二层14至16号、24号区域
IPC主分类号
G06F861
IPC分类号
G06F1122
代理机构
珠海智专专利商标代理有限公司 44262
代理人
林永协
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试装置 [P]. 
林源记 ;
谢志宏 .
中国专利 :CN209606569U ,2019-11-08
[2]
eMCP芯片的测试装置 [P]. 
孙文琪 .
中国专利 :CN222337933U ,2025-01-10
[3]
芯片测试系统及芯片测试装置 [P]. 
焦继业 ;
刘俊波 ;
李辉 ;
王暾烜 .
中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08
[4]
芯片测试装置及芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
罗双武 .
中国专利 :CN215813200U ,2022-02-11
[5]
芯片定位装置及芯片测试装置 [P]. 
葛志贤 .
中国专利 :CN216411357U ,2022-04-29
[6]
测试装置及测试线 [P]. 
汤志远 ;
蒋晓东 .
中国专利 :CN208155574U ,2018-11-27
[7]
芯片测试装置、芯片测试系统及数据采集方法 [P]. 
林楷辉 ;
倪建兴 .
中国专利 :CN114325312A ,2022-04-12
[8]
芯片测试装置、芯片测试系统及数据采集方法 [P]. 
林楷辉 ;
倪建兴 .
中国专利 :CN114325312B ,2025-05-30
[9]
芯片测试装置及系统 [P]. 
孟宪余 ;
梁旺平 .
中国专利 :CN203287491U ,2013-11-13
[10]
芯片测试装置及系统 [P]. 
萨斌 ;
王刚 .
中国专利 :CN216449690U ,2022-05-06