光学特性测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680071975.0

申请日：

2016-12-05

公开(公告)号：

CN108369155A

公开(公告)日：

2018-08-03

发明(设计)人：

关口瑛士清水晋二高桥诚

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01M1100

IPC分类号：

G01J100 G01J350 G02F113

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

车玲玲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-03	公开	公开
2018-08-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/00 申请日:20161205
2020-04-03	授权	授权

共 50 条

[1]

光学特性测量装置及光学特性测量方法 [P].

小野修司 .

中国专利 :CN105473999B ,2016-04-06

[2]

光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法 [P].

前田穣 .

中国专利 :CN107709941A ,2018-02-16

[3]

光学特性测量装置 [P].

大久保和明 ;

白岩久志 .

中国专利 :CN103575508A ,2014-02-12

[4]

光学特性测量装置 [P].

安藤利典 .

中国专利 :CN102735427A ,2012-10-17

[5]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

[6]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN103403528A ,2013-11-20

[7]

光学特性测量装置及方法 [P].

江口明大 ;

下田知之 .

中国专利 :CN103210294A ,2013-07-17

[8]

光学特性测量装置和光学式位移计 [P].

岩波孝志 ;

柳原英次 .

中国专利 :CN1306256C ,2004-05-26

[9]

一种光学特性测量装置 [P].

潘建根 ;

杨静 .

中国专利 :CN204882357U ,2015-12-16

[10]

一种光学特性测量装置 [P].

李新芳 .

中国专利 :CN113310954B ,2021-08-27

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