光学特性测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310030361.6

申请日：

2013-01-25

公开(公告)号：

CN103575508A

公开(公告)日：

2014-02-12

发明(设计)人：

大久保和明白岩久志

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01J104

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-05-24	授权	授权
2015-07-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101615828780 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2013100303616 申请日:20130125
2014-02-12	公开	公开

共 50 条

[1]

光学特性测量装置 [P].

关口瑛士 ;

清水晋二 ;

高桥诚 .

中国专利 :CN108369155A ,2018-08-03

[2]

光学特性测量装置 [P].

安藤利典 .

中国专利 :CN102735427A ,2012-10-17

[3]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

[4]

光学特性测量装置及光学特性测量方法 [P].

小野修司 .

中国专利 :CN105473999B ,2016-04-06

[5]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN103403528A ,2013-11-20

[6]

光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法 [P].

前田穣 .

中国专利 :CN107709941A ,2018-02-16

[7]

光学特性测量装置及方法 [P].

江口明大 ;

下田知之 .

中国专利 :CN103210294A ,2013-07-17

[8]

光学特性测量装置和光学式位移计 [P].

岩波孝志 ;

柳原英次 .

中国专利 :CN1306256C ,2004-05-26

[9]

一种光学特性测量装置 [P].

潘建根 ;

杨静 .

中国专利 :CN204882357U ,2015-12-16

[10]

一种光学特性测量装置 [P].

李新芳 .

中国专利 :CN113310954B ,2021-08-27

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