一种光学特性测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520623921.3

申请日：

2015-08-18

公开(公告)号：

CN204882357U

公开(公告)日：

2015-12-16

发明(设计)人：

潘建根杨静

申请人：

申请人地址：

310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号

IPC主分类号：

G01N2125

IPC分类号：

G01N2157

代理机构：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-16	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学特性测量装置 [P].

潘建根 ;

杨静 .

中国专利 :CN105136685A ,2015-12-09

[2]

一种材料光学特性测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN205808911U ,2016-12-14

[3]

一种物体光学特性测量装置 [P].

潘建根 ;

黄英 .

中国专利 :CN204924913U ,2015-12-30

[4]

一种材料光学特性测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN105424615A ,2016-03-23

[5]

一种物体光学特性测量装置 [P].

潘建根 ;

黄英 .

中国专利 :CN104792710B ,2015-07-22

[6]

一种光学特性测量装置 [P].

李新芳 .

中国专利 :CN113310954B ,2021-08-27

[7]

光学特性测量装置 [P].

大久保和明 ;

白岩久志 .

中国专利 :CN103575508A ,2014-02-12

[8]

光学特性测量装置 [P].

关口瑛士 ;

清水晋二 ;

高桥诚 .

中国专利 :CN108369155A ,2018-08-03

[9]

光学特性测量装置 [P].

安藤利典 .

中国专利 :CN102735427A ,2012-10-17

[10]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

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