设备测试方法、装置、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110454204.2
申请日
2021-04-26
公开(公告)号
CN113219262A
公开(公告)日
2021-08-06
发明(设计)人
汪洋 张建国
申请人
申请人地址
518067 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷六栋A座1101
IPC主分类号
G01R2910
IPC分类号
代理机构
深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481
代理人
李雪鹃;牛悦涵
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
邓凌星 ;
李升根 .
中国专利 :CN115658396A ,2023-01-31
[2]
设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
许崇铭 ;
吴瀚平 .
中国专利 :CN117724745A ,2024-03-19
[3]
设备测试方法、设备及存储介质 [P]. 
梅诗泉 .
中国专利 :CN118535393A ,2024-08-23
[4]
设备测试方法、装置、设备及可读存储介质 [P]. 
孙天宇 .
中国专利 :CN118819976A ,2024-10-22
[5]
测试设备、测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
刘启飞 .
中国专利 :CN120712491A ,2025-09-26
[6]
设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李伟玲 ;
刘金胜 ;
苑京立 ;
李明明 ;
夏永强 ;
覃琴 ;
李伟 ;
张辉 .
中国专利 :CN118741401A ,2024-10-01
[7]
设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
徐和材 .
中国专利 :CN117792956A ,2024-03-29
[8]
设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
邓鹏 ;
廖刚 .
中国专利 :CN119445431A ,2025-02-14
[9]
一种设备测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
叶秋丽 .
中国专利 :CN113300913B ,2021-08-24
[10]
设备测试方法、测试设备和存储介质 [P]. 
罗伟昌 ;
朱赵川 ;
李魁 .
中国专利 :CN117930066A ,2024-04-26