一种设备测试方法、装置、测试设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110686036.X

申请日：

2021-06-21

公开(公告)号：

CN113300913B

公开(公告)日：

2021-08-24

发明(设计)人：

叶秋丽

申请人：

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街2号57幢四层A

IPC主分类号：

H04L4308

IPC分类号：

H04L410663 H04L6710 H04L67141

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

孟金喆

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-06	授权	授权
2021-09-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04L 12/26 申请日:20210621
2021-08-24	公开	公开

共 50 条

[1]

一种设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨润迅 ;

唐辉丰 .

中国专利 :CN112835802A ,2021-05-25

[2]

测试方法、装置、测试设备和存储介质 [P].

谢冰峰 ;

曹文聪 ;

陈冬鸿 .

中国专利 :CN110677317A ,2020-01-10

[3]

一种测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

邸立涛 .

中国专利 :CN108228468A ,2018-06-29

[4]

一种设备测试方法、装置、待测试设备及存储介质 [P].

邓亚隆 .

中国专利 :CN114490746B ,2024-01-23

[5]

一种设备测试方法、装置、待测试设备及存储介质 [P].

邓亚隆 .

中国专利 :CN114490746A ,2022-05-13

[6]

一种多设备协同测试方法、测试设备及可读存储介质 [P].

金波 .

中国专利 :CN114996168B ,2022-09-02

[7]

一种设备测试方法、设备、设备测试系统及存储介质 [P].

龚飞 .

中国专利 :CN118337677A ,2024-07-12

[8]

设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

邓凌星 ;

李升根 .

中国专利 :CN115658396A ,2023-01-31

[9]

设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

许崇铭 ;

吴瀚平 .

中国专利 :CN117724745A ,2024-03-19

[10]

设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

汪洋 ;

张建国 .

中国专利 :CN113219262A ,2021-08-06

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