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一种设备测试方法、装置、设备及存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110175152.5
申请日
:
2021-02-09
公开(公告)号
:
CN112835802A
公开(公告)日
:
2021-05-25
发明(设计)人
:
杨润迅
唐辉丰
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市中山园路1001号TCL国际E城F3栋五楼AB单元
IPC主分类号
:
G06F1136
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳中细软知识产权代理有限公司 44528
代理人
:
王志强
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-06-11
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20210209
2021-05-25
公开
公开
共 50 条
[1]
一种设备测试方法、装置、测试设备及存储介质
[P].
叶秋丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶秋丽
.
中国专利
:CN113300913B
,2021-08-24
[2]
设备测试方法、装置、测试控制端及存储介质
[P].
卢嘉耀
论文数:
0
引用数:
0
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0
卢嘉耀
.
中国专利
:CN115643281A
,2023-01-24
[3]
一种设备测试方法及装置、设备、存储介质
[P].
邢金强
论文数:
0
引用数:
0
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0
邢金强
.
中国专利
:CN114661564A
,2022-06-24
[4]
一种设备测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
李海斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李海斌
.
中国专利
:CN114116353A
,2022-03-01
[5]
设备测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
邓凌星
论文数:
0
引用数:
0
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0
邓凌星
;
李升根
论文数:
0
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0
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0
李升根
.
中国专利
:CN115658396A
,2023-01-31
[6]
设备测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
许崇铭
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
许崇铭
;
吴瀚平
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
吴瀚平
.
中国专利
:CN117724745A
,2024-03-19
[7]
设备测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
汪洋
论文数:
0
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0
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汪洋
;
张建国
论文数:
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0
张建国
.
中国专利
:CN113219262A
,2021-08-06
[8]
一种设备测试方法、装置、待测试设备及存储介质
[P].
邓亚隆
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州浪潮智能科技有限公司
苏州浪潮智能科技有限公司
邓亚隆
.
中国专利
:CN114490746B
,2024-01-23
[9]
一种设备测试方法、装置、待测试设备及存储介质
[P].
邓亚隆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邓亚隆
.
中国专利
:CN114490746A
,2022-05-13
[10]
一种测试方法、装置、测试设备及存储介质
[P].
邸立涛
论文数:
0
引用数:
0
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0
邸立涛
.
中国专利
:CN108228468A
,2018-06-29
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