一种设备测试方法、装置、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110175152.5
申请日
2021-02-09
公开(公告)号
CN112835802A
公开(公告)日
2021-05-25
发明(设计)人
杨润迅 唐辉丰
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市中山园路1001号TCL国际E城F3栋五楼AB单元
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
深圳中细软知识产权代理有限公司 44528
代理人
王志强
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种设备测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
叶秋丽 .
中国专利 :CN113300913B ,2021-08-24
[2]
设备测试方法、装置、测试控制端及存储介质 [P]. 
卢嘉耀 .
中国专利 :CN115643281A ,2023-01-24
[3]
一种设备测试方法及装置、设备、存储介质 [P]. 
邢金强 .
中国专利 :CN114661564A ,2022-06-24
[4]
一种设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
李海斌 .
中国专利 :CN114116353A ,2022-03-01
[5]
设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
邓凌星 ;
李升根 .
中国专利 :CN115658396A ,2023-01-31
[6]
设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
许崇铭 ;
吴瀚平 .
中国专利 :CN117724745A ,2024-03-19
[7]
设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
汪洋 ;
张建国 .
中国专利 :CN113219262A ,2021-08-06
[8]
一种设备测试方法、装置、待测试设备及存储介质 [P]. 
邓亚隆 .
中国专利 :CN114490746B ,2024-01-23
[9]
一种设备测试方法、装置、待测试设备及存储介质 [P]. 
邓亚隆 .
中国专利 :CN114490746A ,2022-05-13
[10]
一种测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
邸立涛 .
中国专利 :CN108228468A ,2018-06-29