一种测试方法、装置、测试设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810146058.5
申请日
2018-02-12
公开(公告)号
CN108228468A
公开(公告)日
2018-06-29
发明(设计)人
邸立涛
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285
代理人
王仲凯
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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[2]
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[3]
一种设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
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[4]
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[5]
测试方法及装置、测试设备、存储介质 [P]. 
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[6]
测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
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[7]
测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
宋丹 ;
韩艾彤 .
中国专利 :CN119922590B ,2025-12-19
[8]
测试设备、测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
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[9]
一种测试方法、测试设备、测试装置及存储介质 [P]. 
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[10]
测试方法、装置、测试设备和存储介质 [P]. 
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