粒度分布测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510085341.4

申请日：

2005-07-22

公开(公告)号：

CN1755347A

公开(公告)日：

2006-04-05

发明(设计)人：

深井秋博十时慎一郎

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

G01N2147

代理机构：

北京中原华和知识产权代理有限责任公司

代理人：

寿宁;张华辉

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2006-04-05	公开	公开
2006-05-31	实质审查的生效	实质审查的生效
2019-07-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20050722 授权公告日:20081112 终止日期:20180722
2008-11-12	授权	授权

共 50 条

[1]

粒度分布测定装置和粒度分布测定方法 [P].

山平尚史 ;

坪井俊树 .

日本专利 :CN111954800B ,2024-05-31

[2]

粒度分布测定装置和粒度分布测定方法 [P].

山平尚史 ;

坪井俊树 .

中国专利 :CN111954800A ,2020-11-17

[3]

粒度分布测定装置 [P].

菅澤央昌 .

中国专利 :CN102192868B ,2011-09-21

[4]

原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法以及空隙率测定装置 [P].

山平尚史 ;

西野嵩启 ;

平田丈英 ;

津田和吕 ;

坪井俊树 .

中国专利 :CN110476053B ,2019-11-19

[5]

煤浆粒度分布测定装置 [P].

梁霏飞 ;

吴崇 .

中国专利 :CN203849136U ,2014-09-24

[6]

煤粉粒度分布自动测定装置 [P].

梁霏飞 ;

吴崇 ;

刘建平 ;

涂昌德 ;

李书兴 .

中国专利 :CN203929575U ,2014-11-05

[7]

粒径分布测定装置 [P].

黑住拓司 ;

东川喜昭 .

中国专利 :CN101349631B ,2009-01-21

[8]

粒径分布测定装置 [P].

东川喜昭 ;

北村裕之 ;

清水猛 .

中国专利 :CN1924554B ,2007-03-07

[9]

分布测定装置 [P].

大久保到 ;

刘利明 .

日本专利 :CN120813678A ,2025-10-17

[10]

粒度分布測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP5974714B2 ,2016-08-23

← 1 2 3 4 5 →