粒径分布测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610151709.7

申请日：

2006-08-29

公开(公告)号：

CN1924554B

公开(公告)日：

2007-03-07

发明(设计)人：

东川喜昭北村裕之清水猛

申请人：

申请人地址：

日本国京都府京都市南区吉祥院宫的东町2番地

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

G01N2117

代理机构：

上海市华诚律师事务所 31210

代理人：

黄依文

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-05-02	实质审查的生效	实质审查的生效
2022-08-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20060829 授权公告日:20100908 终止日期:20210829
2010-09-08	授权	授权
2007-03-07	公开	公开

共 50 条

[1]

粒径分布测定装置 [P].

黑住拓司 ;

东川喜昭 .

中国专利 :CN101349631B ,2009-01-21

[2]

粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序 [P].

若山育央 .

中国专利 :CN113495042A ,2021-10-12

[3]

粒子群特性测定装置、粒子群特性测定方法、粒子群特性测定装置用程序、粒径分布测定装置和粒径分布测定方法 [P].

立脇康弘 ;

藤原真悟 .

中国专利 :CN114556080A ,2022-05-27

[4]

离子交换树脂粒径分布的测定装置 [P].

钱平 ;

程晓辉 ;

杨金涛 ;

卜小海 ;

张泽武 .

中国专利 :CN213529843U ,2021-06-25

[5]

温度分布测定装置以及温度分布测定方法 [P].

笠嶋丈夫 ;

宇野和史 ;

石锅稔 ;

只木恭子 ;

武井文雄 .

中国专利 :CN103733037B ,2014-04-16

[6]

温度分布测定系统、温度分布测定装置以及温度分布测定方法 [P].

笠嶋丈夫 ;

宇野和史 ;

石锅稔 ;

只木恭子 ;

武井文雄 .

中国专利 :CN103782144A ,2014-05-07

[7]

微粒测定装置 [P].

外石满 ;

濑尾胜弘 ;

高崎浩司 ;

山田晋司 ;

福本敦 .

中国专利 :CN102346145B ,2012-02-08

[8]

粒子群特性测定装置及方法、粒径分布测定装置及方法、存储介质 [P].

立脇康弘 ;

藤原真悟 .

日本专利 :CN114556080B ,2025-08-29

[9]

粒径分布测定计 [P].

米泽俵介 ;

前野晃男 ;

驹田世志人 ;

名仓诚 ;

山口哲司 .

中国专利 :CN300803540D ,2008-07-16

[10]

粒度分布测定装置 [P].

深井秋博 ;

十时慎一郎 .

中国专利 :CN1755347A ,2006-04-05

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