微粒测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110199688.7

申请日：

2011-07-15

公开(公告)号：

CN102346145B

公开(公告)日：

2012-02-08

发明(设计)人：

外石满濑尾胜弘高崎浩司山田晋司福本敦

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G01N2165 G01N2115

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

余刚;吴孟秋

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-02-08	公开	公开
2015-09-09	授权	授权
2021-07-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20110715 授权公告日:20150909 终止日期:20200715
2013-07-10	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101488122549 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2011101996887 申请日:20110715

共 50 条

[1]

微粒测定装置 [P].

加茂友规 .

中国专利 :CN204536159U ,2015-08-05

[2]

粒径分布测定装置 [P].

黑住拓司 ;

东川喜昭 .

中国专利 :CN101349631B ,2009-01-21

[3]

粒径分布测定装置 [P].

东川喜昭 ;

北村裕之 ;

清水猛 .

中国专利 :CN1924554B ,2007-03-07

[4]

微粒测定装置及其测定方法 [P].

荻野真一 .

中国专利 :CN1120668A ,1996-04-17

[5]

微粒子测定装置 [P].

今井康晴 ;

鹫津信荣 .

日本专利 :CN120981713A ,2025-11-18

[6]

光测定方法以及光测定装置 [P].

山田刚 .

日本专利 :CN118056122A ,2024-05-17

[7]

气体成分浓度测定装置 [P].

伊泽淳 ;

滨野靖德 ;

久保田伸彦 .

中国专利 :CN102216755A ,2011-10-12

[8]

散射光测定装置 [P].

尾崎幸洋 ;

窦晓鸣 ;

山口佳则 ;

上野山晴三 .

中国专利 :CN1157915A ,1997-08-27

[9]

测定装置以及测定方法 [P].

藤原崇雄 ;

堀井和由 ;

古佐小达也 ;

能勢智之 ;

友田小百合 .

中国专利 :CN107561298A ,2018-01-09

[10]

分光测定装置 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN114341602A ,2022-04-12

← 1 2 3 4 5 →