微粒测定装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420309443.4

申请日：

2014-06-11

公开(公告)号：

CN204536159U

公开(公告)日：

2015-08-05

发明(设计)人：

加茂友规

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01N1506

IPC分类号：

代理机构：

北京市隆安律师事务所 11323

代理人：

权鲜枝

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-08-05	授权	授权

共 50 条

[1]

微粒测定装置 [P].

外石满 ;

濑尾胜弘 ;

高崎浩司 ;

山田晋司 ;

福本敦 .

中国专利 :CN102346145B ,2012-02-08

[2]

微粒测定装置及其测定方法 [P].

荻野真一 .

中国专利 :CN1120668A ,1996-04-17

[3]

微粒子测定装置 [P].

今井康晴 ;

鹫津信荣 .

日本专利 :CN120981713A ,2025-11-18

[4]

微粒测定装置和具备其的超纯水制造装置以及微粒测定方法 [P].

市原史贵 ;

菅原广 ;

近藤司 ;

须藤史生 .

日本专利 :CN117480374A ,2024-01-30

[5]

测定装置 [P].

近藤针次 ;

尹勇钢 .

日本专利 :CN112826478B ,2024-05-07

[6]

测定装置 [P].

近藤针次 ;

尹勇钢 .

中国专利 :CN112826478A ,2021-05-25

[7]

测定装置 [P].

高桥昌之 ;

中村安男 ;

星健一 ;

加藤大骑 .

日本专利 :CN118451343A ,2024-08-06

[8]

测定装置 [P].

吴凯 .

日本专利 :CN117647569A ,2024-03-05

[9]

测定装置 [P].

西山尚 ;

俞映圭 ;

宋映德 ;

权纯鏋 .

中国专利 :CN203745474U ,2014-07-30

[10]

测定装置 [P].

神崎勇人 .

日本专利 :CN117929739A ,2024-04-26

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