分布测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480015086.7

申请日：

2024-02-28

公开(公告)号：

CN120813678A

公开(公告)日：

2025-10-17

发明(设计)人：

大久保到刘利明

申请人：

泰尔茂株式会社

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

C12M1/34

IPC分类号：

C12Q1/02 G01N27/22

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

闫剑平

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-17	公开	公开

共 50 条

[1]

热流分布测定装置 [P].

白石芳彦 ;

坂井田敦资 ;

乡古伦央 ;

谷口敏尚 ;

冈本圭司 .

中国专利 :CN106461471B ,2017-02-22

[2]

粒径分布测定装置 [P].

黑住拓司 ;

东川喜昭 .

中国专利 :CN101349631B ,2009-01-21

[3]

粒径分布测定装置 [P].

东川喜昭 ;

北村裕之 ;

清水猛 .

中国专利 :CN1924554B ,2007-03-07

[4]

粒度分布测定装置 [P].

菅澤央昌 .

中国专利 :CN102192868B ,2011-09-21

[5]

粒度分布测定装置 [P].

深井秋博 ;

十时慎一郎 .

中国专利 :CN1755347A ,2006-04-05

[6]

剂量分布测定装置 [P].

平泽宏祐 ;

池田昌广 .

中国专利 :CN104870054A ,2015-08-26

[7]

粒度分布测定装置和粒度分布测定方法 [P].

山平尚史 ;

坪井俊树 .

日本专利 :CN111954800B ,2024-05-31

[8]

温度分布测定装置以及温度分布测定方法 [P].

笠嶋丈夫 ;

宇野和史 ;

石锅稔 ;

只木恭子 ;

武井文雄 .

中国专利 :CN103733037B ,2014-04-16

[9]

粒度分布测定装置和粒度分布测定方法 [P].

山平尚史 ;

坪井俊树 .

中国专利 :CN111954800A ,2020-11-17

[10]

温度分布测定系统、温度分布测定装置以及温度分布测定方法 [P].

笠嶋丈夫 ;

宇野和史 ;

石锅稔 ;

只木恭子 ;

武井文雄 .

中国专利 :CN103782144A ,2014-05-07

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