插件回归测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202110575145.4

申请日：

2021-05-26

公开(公告)号：

CN115408251A

公开(公告)日：

2022-11-29

发明(设计)人：

何周勇

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区福田街道益田路5023号平安金融中心B座第22-25层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06F9455

代理机构：

深圳市沃德知识产权代理事务所(普通合伙) 44347

代理人：

高杰;于志光

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20210526
2022-11-29	公开	公开

共 50 条

[1]

回归测试方法、装置、介质及电子设备 [P].

李超 .

中国专利 :CN111666201A ,2020-09-15

[2]

回归测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

朱鸿儒 ;

魏立明 ;

张茂杰 ;

姜威 ;

张雪娇 .

中国专利 :CN120653540A ,2025-09-16

[3]

接口测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

张洋 .

中国专利 :CN113051171A ,2021-06-29

[4]

接口测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

张洋 .

中国专利 :CN113051171B ,2024-04-02

[5]

数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

向乾 ;

尤薇 ;

李桂芸 .

中国专利 :CN113434414A ,2021-09-24

[6]

页面测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

余鸿飞 .

中国专利 :CN114936148A ,2022-08-23

[7]

回归测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

李洋 ;

陈蕾 .

中国专利 :CN115454826A ,2022-12-09

[8]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张晓明 ;

孟文龙 .

中国专利 :CN114546830A ,2022-05-27

[9]

回归测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

杨凤霞 ;

张健 ;

张志宏 ;

王思远 ;

吴海英 ;

蒋宁 .

中国专利 :CN118051418A ,2024-05-17

[10]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高杨 .

中国专利 :CN110083543B ,2019-08-02

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