具有用于存储器感测的自动参考微调反馈的存储器内建自测试

被引：0

申请号：

CN202080096119.7

申请日：

2020-05-28

公开(公告)号：

CN115088036A

公开(公告)日：

2022-09-20

发明(设计)人：

尹钟信 B·纳多-多西 M·凯姆

申请人：

申请人地址：

美国德克萨斯州

IPC主分类号：

G11C2902

IPC分类号：

G11C2912 G11C2916 G11C2946 G11C2944 G11C2950

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

景怀宇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-20	公开	公开

共 50 条

[1]

具有用于存储器感测的自动参考微调反馈的存储器内建自测试 [P].

尹钟信 ;

B·纳多-多西 ;

M·凯姆 .

美国专利 :CN115088036B ,2025-07-01

[2]

具有自动化多步参考微调的存储器内建自测试 [P].

尹钟信 ;

M·凯姆 .

美国专利 :CN115066728B ,2025-06-24

[3]

具有自动化多步参考微调的存储器内建自测试 [P].

尹钟信 ;

M·凯姆 .

中国专利 :CN115066728A ,2022-09-16

[4]

存储器内建自测试电路 [P].

李鸣 .

中国专利 :CN102903393B ,2013-01-30

[5]

存储器的内建自测试系统 [P].

彭涛 .

中国专利 :CN111292795B ,2020-06-16

[6]

存储器的内建自测试系统 [P].

王建群 ;

徐成宇 .

中国专利 :CN120164513A ,2025-06-17

[7]

存储器内建自测试方法 [P].

杨修 ;

唐杜娟 .

中国专利 :CN101339811A ,2009-01-07

[8]

具有地址跳过的微调搜索的存储器内建自测试 [P].

尹钟信 ;

M·凯姆 ;

C·蒙克 ;

M·B·塔胡里 .

美国专利 :CN118974826A ,2024-11-15

[9]

使用存储器内建自测试的参考位测试和修复 [P].

尹钟信 ;

B·纳多-多西 ;

H·柯达里 .

中国专利 :CN115349149A ,2022-11-15

[10]

存储器的快速内建自测试系统 [P].

拜福君 ;

熊保玉 .

中国专利 :CN203910275U ,2014-10-29

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