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具有用于存储器感测的自动参考微调反馈的存储器内建自测试
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202080096119.7
申请日
:
2020-05-28
公开(公告)号
:
CN115088036B
公开(公告)日
:
2025-07-01
发明(设计)人
:
尹钟信
B·纳多-多西
M·凯姆
申请人
:
西门子工业软件有限公司
申请人地址
:
美国德克萨斯州
IPC主分类号
:
G11C29/02
IPC分类号
:
G11C29/12
G11C29/16
G11C29/46
G11C29/44
G11C29/50
代理机构
:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
景怀宇
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-07-01
授权
授权
共 50 条
[1]
具有用于存储器感测的自动参考微调反馈的存储器内建自测试
[P].
尹钟信
论文数:
0
引用数:
0
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0
尹钟信
;
B·纳多-多西
论文数:
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0
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B·纳多-多西
;
M·凯姆
论文数:
0
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0
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0
M·凯姆
.
中国专利
:CN115088036A
,2022-09-20
[2]
具有自动化多步参考微调的存储器内建自测试
[P].
尹钟信
论文数:
0
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0
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0
机构:
西门子工业软件有限公司
西门子工业软件有限公司
尹钟信
;
M·凯姆
论文数:
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0
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0
机构:
西门子工业软件有限公司
西门子工业软件有限公司
M·凯姆
.
美国专利
:CN115066728B
,2025-06-24
[3]
具有自动化多步参考微调的存储器内建自测试
[P].
尹钟信
论文数:
0
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0
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0
尹钟信
;
M·凯姆
论文数:
0
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0
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0
M·凯姆
.
中国专利
:CN115066728A
,2022-09-16
[4]
存储器内建自测试电路
[P].
李鸣
论文数:
0
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0
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0
李鸣
.
中国专利
:CN102903393B
,2013-01-30
[5]
存储器的内建自测试系统
[P].
彭涛
论文数:
0
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0
彭涛
.
中国专利
:CN111292795B
,2020-06-16
[6]
存储器的内建自测试系统
[P].
王建群
论文数:
0
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0
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0
机构:
北京时代全芯存储技术股份有限公司
北京时代全芯存储技术股份有限公司
王建群
;
徐成宇
论文数:
0
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0
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0
机构:
北京时代全芯存储技术股份有限公司
北京时代全芯存储技术股份有限公司
徐成宇
.
中国专利
:CN120164513A
,2025-06-17
[7]
存储器内建自测试方法
[P].
杨修
论文数:
0
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0
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杨修
;
唐杜娟
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0
引用数:
0
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0
唐杜娟
.
中国专利
:CN101339811A
,2009-01-07
[8]
具有地址跳过的微调搜索的存储器内建自测试
[P].
尹钟信
论文数:
0
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0
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0
机构:
西门子工业软件有限公司
西门子工业软件有限公司
尹钟信
;
M·凯姆
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0
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0
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机构:
西门子工业软件有限公司
西门子工业软件有限公司
M·凯姆
;
C·蒙克
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机构:
西门子工业软件有限公司
西门子工业软件有限公司
C·蒙克
;
M·B·塔胡里
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0
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0
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机构:
西门子工业软件有限公司
西门子工业软件有限公司
M·B·塔胡里
.
美国专利
:CN118974826A
,2024-11-15
[9]
使用存储器内建自测试的参考位测试和修复
[P].
尹钟信
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0
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尹钟信
;
B·纳多-多西
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B·纳多-多西
;
H·柯达里
论文数:
0
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0
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0
H·柯达里
.
中国专利
:CN115349149A
,2022-11-15
[10]
存储器的快速内建自测试系统
[P].
拜福君
论文数:
0
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拜福君
;
熊保玉
论文数:
0
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0
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0
熊保玉
.
中国专利
:CN203910275U
,2014-10-29
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