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测试治具
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN201330490301.3
申请日
:
2013-10-16
公开(公告)号
:
CN302788251S
公开(公告)日
:
2014-04-09
发明(设计)人
:
聂念玲
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市宝安区观澜街道福民社区田背二村隆丰工业园
IPC主分类号
:
1005
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市嘉宏博知识产权代理事务所 44273
代理人
:
孙强
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2014-04-09
授权
授权
2021-09-24
专利权的终止
未缴年费专利权终止 主分类号:10-05 申请日:20131016 授权公告日:20140409 终止日期:20201016
共 50 条
[1]
测试治具
[P].
周书宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周书宇
.
中国专利
:CN305187118S
,2019-05-31
[2]
测试治具
[P].
杨滨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨滨
.
中国专利
:CN304825133S
,2018-09-21
[3]
测试治具
[P].
黎军明
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0
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0
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0
黎军明
;
黄健林
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黄健林
;
覃有山
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覃有山
;
梁勇
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梁勇
;
罗德锋
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罗德锋
;
李城春
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李城春
.
中国专利
:CN307846352S
,2023-02-17
[4]
测试治具
[P].
陈乾
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0
引用数:
0
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0
机构:
武汉精毅通电子技术有限公司
武汉精毅通电子技术有限公司
陈乾
.
中国专利
:CN308483457S
,2024-02-23
[5]
测试治具
[P].
韩璧丞
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0
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0
韩璧丞
;
李晓
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李晓
.
中国专利
:CN307717765S
,2022-12-09
[6]
测试治具
[P].
韩璧丞
论文数:
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0
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韩璧丞
;
李晓
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0
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李晓
.
中国专利
:CN307797207S
,2023-01-17
[7]
测试治具
[P].
陈其伟
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陈其伟
.
中国专利
:CN304413453S
,2017-12-19
[8]
阻抗测试治具
[P].
向军
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机构:
深圳宏恩电子技术有限公司
深圳宏恩电子技术有限公司
向军
;
郭伟
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机构:
深圳宏恩电子技术有限公司
深圳宏恩电子技术有限公司
郭伟
;
马征
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机构:
深圳宏恩电子技术有限公司
深圳宏恩电子技术有限公司
马征
.
中国专利
:CN308545505S
,2024-03-29
[9]
PCB测试治具
[P].
曾双青
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0
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0
曾双青
.
中国专利
:CN305945869S
,2020-07-28
[10]
键盘测试治具
[P].
蒋海军
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蒋海军
;
刘利刚
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刘利刚
.
中国专利
:CN307697164S
,2022-11-29
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