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测试治具
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN201730644507.5
申请日
:
2017-12-16
公开(公告)号
:
CN304825133S
公开(公告)日
:
2018-09-21
发明(设计)人
:
杨滨
申请人
:
申请人地址
:
710119 陕西省西安市高新区硕士路38号301室
IPC主分类号
:
1005
IPC分类号
:
代理机构
:
西安智邦专利商标代理有限公司 61211
代理人
:
王少文
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-12-06
专利权的终止
未缴年费专利权终止 主分类号:10-05 申请日:20171216 授权公告日:20180921 终止日期:20181216
2018-09-21
授权
授权
共 50 条
[1]
测试治具
[P].
周书宇
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0
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周书宇
.
中国专利
:CN305187118S
,2019-05-31
[2]
测试治具
[P].
吴章云
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吴章云
;
陈志扬
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陈志扬
;
李硕
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李硕
;
李光裕
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李光裕
;
符乃云
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符乃云
.
中国专利
:CN217982844U
,2022-12-06
[3]
测试治具
[P].
聂念玲
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聂念玲
.
中国专利
:CN302788251S
,2014-04-09
[4]
测试治具
[P].
黎军明
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黎军明
;
黄健林
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黄健林
;
覃有山
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覃有山
;
梁勇
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梁勇
;
罗德锋
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罗德锋
;
李城春
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李城春
.
中国专利
:CN307846352S
,2023-02-17
[5]
测试治具
[P].
何正鸿
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机构:
甬矽半导体(宁波)有限公司
甬矽半导体(宁波)有限公司
何正鸿
;
陶毅
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机构:
甬矽半导体(宁波)有限公司
甬矽半导体(宁波)有限公司
陶毅
;
田旭
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机构:
甬矽半导体(宁波)有限公司
甬矽半导体(宁波)有限公司
田旭
;
陈泽
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机构:
甬矽半导体(宁波)有限公司
甬矽半导体(宁波)有限公司
陈泽
.
中国专利
:CN221803286U
,2024-10-01
[6]
测试治具
[P].
陈乾
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机构:
武汉精毅通电子技术有限公司
武汉精毅通电子技术有限公司
陈乾
.
中国专利
:CN308483457S
,2024-02-23
[7]
测试治具
[P].
康增旗
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康增旗
;
张琦
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张琦
;
廖贵田
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廖贵田
.
中国专利
:CN211453880U
,2020-09-08
[8]
测试治具
[P].
韩璧丞
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韩璧丞
;
李晓
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李晓
.
中国专利
:CN307717765S
,2022-12-09
[9]
测试治具
[P].
韩璧丞
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韩璧丞
;
李晓
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李晓
.
中国专利
:CN307797207S
,2023-01-17
[10]
测试治具
[P].
陈其伟
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陈其伟
.
中国专利
:CN304413453S
,2017-12-19
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